Gebraucht HITACHI S-3000H #293645414 zu verkaufen

HITACHI S-3000H Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein optisches Gerät, das verwendet wird, um kleine Objekte zu betrachten, indem es sie mit einem abgetasteten Elektronenstrahl abtastet. Das Mikroskop ist mit einem hochauflösenden Breitfeld-Objektivsystem, zweidimensionalen (2D) Beschleunigungsmessern und modernster computergestützter Bildverarbeitungstechnologie ausgestattet, um dem Anwender präzise Bilder der Probenoberfläche zu liefern. HITACHI S 3000 H verwendet sekundäre und rückgestreute Elektronendetektoren, um die Probenoberfläche abzubilden. Der Abtastelektronikstrahl wird durch 2D-Beschleunigungsmesser über die Probenoberfläche abgelenkt, wobei die sekundären und rückgestreuten Elektronen in Abständen gesammelt und auf die Abbildungsmedien aufgezeichnet werden. Die Probenoberfläche wird durch Scannen in einem x-, y- und z-ebenen Muster zu einer 3D-Oberflächenkarte geformt, wodurch die genaue Messung von Oberflächenmerkmalen ermöglicht wird. S-3000H verfügt auch über ein Dual-Objektiv-Linsensystem mit einer Reihe von Objektiven für hohe Auflösung und die andere für Breitbild-Bildgebung und Scannen. Dies ermöglicht sowohl hochauflösende Bildgebung bei hohen Vergrößerungen als auch Breitfeldbilder größerer Flächen. Das Mikroskop hat auch eine Reihe von Scanmustern und Sweep-Modi und kann bei Bedarf mit spezielleren Scanmustern angepasst werden. Die Bildverarbeitungs- und Analysefähigkeiten von S 3000 H ermöglichen die Verarbeitung von Bildern mit hoher Auflösung und Kontrast sowie eine 3D-Oberflächenrekonstruktion nach der Verarbeitung. Die vom Mikroskop erzeugten Bilder haben gute Sichtfelder und große bis sehr kleine Merkmale können aufgelöst und genau vermessen werden. Das System ist mit einer automatisierten Stufe zur Probenpositionierung mit einer Vielzahl von Stufenbewegungssequenzen ausgestattet, um die Bildgebung der Oberfläche anzupassen. HITACHI S-3000H ist ein leistungsstarkes optisches Instrument, das Kunden detaillierte Bilder der Probenoberfläche liefert und in einer Vielzahl von Forschungsanwendungen sowohl im industriellen als auch im akademischen Bereich eingesetzt werden kann. Die Kombination aus vielseitigen Scanmodi und leistungsstarken Bildverarbeitungsfunktionen ermöglicht eine schnelle und effiziente Abbildung der Probenoberfläche.