Gebraucht HITACHI S-3000H #293645473 zu verkaufen

HITACHI S-3000H ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen von biologischen Proben bis zu feinen Materialien ermöglicht. HITACHI S 3000 H verfügt über eine integrierte Feldemissionskanone (FEG) mit einer Maganin-Linse, die eine starke Fokustiefe und hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Es ist mit einem eingeschlossenen hochauflösenden EDS-Detektor und einem optionalen EBSD-Detektor zur Analyse der Kristallstruktur und kristallographischen Orientierung auf atomarer Ebene ausgestattet. Das Mikroskop ist mit computergesteuerten Bildnaht- und Videozyklusfunktionen ausgestattet, die eine kombinierte Vergrößerung und Auflösung von bis zu 600 km ermöglichen. S-3000H verwendet auch einen MULTEC-Detektor zur bildgebenden und automatisierten Partikel/Kristall-Analyse, der eine Hochgeschwindigkeitsbildgebung und Charakterisierung kleiner Bereiche großer Sichtfelder ermöglicht. Diese Funktionalität gibt Forschern die Möglichkeit, subtile Oberflächendetails mit Nanometerauflösung abzubilden und schöne dreidimensionale Bilder zu erzeugen. Die Elektronikkomponenten und die leistungsstarke Software von S 3000 H bieten Präzisionskontrolle über bildgebende Parameter wie Beschleunigungsspannung, Strahlgeometrie, Strom und Auflösung. Es bietet auch zusätzliche Funktionen, wie eine Vergrößerungslupe, Kalibrierungen und spezialisierte Abbildungsmodi. HITACHI S-3000H kommt mit einem eingebauten Laser-Autofokus-System, das eine zuverlässige, automatische Fokussierung auf jeden Bereich der Probe gewährleistet. Es bietet eine Auswahl an langen Arbeitsabstandszielen und bietet mehr Flexibilität bei der Arbeit mit verschiedenen Probengrößen. Darüber hinaus ist das System in der Lage, Echtzeit-Fernabbildung und Bühnenantriebssteuerung mit einer Schätzung von bis zu 200 nm Genauigkeit über einen Fahrbereich von bis zu 4.500 Pixel. HITACHI S 3000 H kann mit einem optionalen XE Crystal-Analysis-Softwarepaket zur automatisierten Kristallcharakterisierung sowie automatisierter Kartierung und Klassifizierung von Partikeln und Kristallen konfiguriert werden. Diese Funktion kann die Zeit für die Analyse von Proben und die Erstellung von Berichten erheblich reduzieren. Insgesamt ist S-3000H Rasterelektronenmikroskop eine ideale Wahl für Forscher, die eine hochauflösende Bildgebung und Analyse mehrerer Proben benötigen. Die Kombination aus fortschrittlichen Funktionen und modernster Technologie bietet maximale Flexibilität und höchste Genauigkeit bei der Betrachtung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen.