Gebraucht HITACHI S-4700 Type II #9259272 zu verkaufen

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HITACHI S-4700 Type II
Verkauft
ID: 9259272
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) OXFORD EDS included Low kV performance with resolution of 2.1 nm at 1 kV (2) Secondary electron detectors.
Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-4700 Type II (SEM) ist ein leistungsstarkes Mikroskopiegerät, das mithilfe eines Rasterelektronenstrahls hochauflösende Bilder der Oberfläche einer Probe erzeugt. Es ist ein vielseitiges Werkzeug, das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien, wie Festmetalle, biologische Gewebe und Mineralien verwendet werden kann. HITACHI S 4700 TYPE II verfügt über ein einzigartiges Zweispaltendesign, das es dem Benutzer ermöglicht, aus einer Reihe von Beschleunigungsspannungen von 1 kV bis 30 kV auszuwählen. Dies sorgt für eine hohe räumliche Auflösung und geringe Probendrift, wodurch der Bedarf an häufiger Fokussierung reduziert wird. Das SEM ist in der Lage, hochauflösende Bilder bei Vergrößerungen von bis zu 500.000x zu erzeugen und kann Farbbilder erzeugen, um bestimmte Funktionen besser zu analysieren. S-4700 Typ II verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Techniken zur Erhöhung von Bildgenauigkeit und Kontrast, wie rückgestreute Elektronenbildgebung (BSEI), sekundäre Elektronenbildgebung (SEI) und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS). SEI ermöglicht die Abbildung mit ultrakleinen Elektronen und erzeugt hauptsächlich topographische Bilder, während BSEI massivere Elektronen verwendet, die von der Probe gestreut werden und Bilder mit mehr Oberflächenmerkmalen erzeugen. Die EDS-Fähigkeit ermöglicht es dem Anwender, die elementare Zusammensetzung zu analysieren und wird hauptsächlich verwendet, um Dünnschichtstrukturen zu betrachten. S 4700 TYPE II hat viele Funktionen, die es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen machen, wie die nanoskalige Analyse von Halbleitern und Bauelementen. Es ist auch in der Lage, biologische Proben sowie Materialien wie Polymere, Keramiken und Metalle zu charakterisieren. Die benutzerfreundliche und einfach zu bedienende Software macht das SEM zu einem unschätzbaren Werkzeug für Wissenschaft, Forschung und Industrie. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-4700 Type II über eine Vielzahl anspruchsvoller Zubehörteile wie einen Videomonitor, ein Vakuumsystem und eine Kameraschnittstelle. Das integrierte Vakuumsystem schafft eine saubere Umgebung für Bildgebung und Analyse, während die Kameraschnittstelle eine Echtzeit-Datenerfassung ermöglicht. Der Videomonitor zeigt hochauflösende Bilder in einer Vielzahl von Anzeigeformaten an. Insgesamt ist HITACHI S 4700 TYPE II ein anspruchsvolles und leistungsstarkes Bildgebungswerkzeug, das für die nanoskalige Analyse einer Vielzahl von Materialien verwendet wird. Seine Funktionalität und seine Zubehörfunktionen ermöglichen es dem Benutzer, die bildgebenden Funktionen dieses SEM optimal zu nutzen.
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