Gebraucht HITACHI S-6000 #293652751 zu verkaufen

HITACHI S-6000
ID: 293652751
Wafergröße: 5"
Scanning electron microscope (SEM), 5".
HITACHI S-6000 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Hochleistungs-Analysewerkzeug, das für eine Reihe von Anwendungen von der routinemäßigen Materialanalyse bis zur fortschrittlichen Technologieentwicklung entwickelt wurde. Das Instrument ist mit hochauflösender Niederspannung, hochmodernen Feldemissionselektronenquellen, fortschrittlichen bildgebenden Systemen und leistungsstarker Software ausgestattet, um eine verbesserte Auflösung und Kontrast sowie eine Vielzahl von analytischen Optionen zu bieten. HITACHI S 6000 SEM bietet innovative Analysetechniken wie Röntgenenergiedispersive (XEDS) Spektrometrie, Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) und sekundäre Elektronenbildgebung zur Bildgebung und Analyse sowohl nichtleitender als auch leitender Oberflächen und Materialien. S-6000 bietet anspruchsvolle bildgebende Funktionen und eine breite Palette automatisierter Messfunktionen. Seine hochauflösende Bildgebung ermöglicht es Benutzern, feine Merkmale zu erkennen und Maßinformationen mit hoher Genauigkeit zu messen. Das Instrument kann Auflösungen bis zu 0,6 nm erreichen, so dass Bilder eine scharfe Auflösung mit hohem Kontrast behalten können. Bilder können auch bis zu 5.000x vergrößert werden, so dass Benutzer sehr kleine Objekte anzeigen und analysieren können. Die integrierte Software-Suite umfasst eine Reihe von Tools zur Bildoptimierung, Visualisierung und Analyse, mit denen Benutzer Materialien schnell charakterisieren, Funktionen lokalisieren und messen und detaillierte Berichte erstellen können. S 6000 ist mit einer Vielzahl von Detektoren, wie Sekundärelektronen-, Backscatter- und Röntgenbilddetektoren ausgestattet, um Bilder mit einem breiten Spektrum an Vergrößerung, überlegenem Kontrast und Auflösung bereitzustellen. Das Instrument kann eingerichtet werden, um verschiedene Arten von Röntgenspektren zu sammeln, einschließlich Röntgenelementarkarten, Linienscans und Röntgenspektren. Durch die Kombination dieser bildgebenden und analytischen Methoden können Anwender die Zusammensetzung und Eigenschaften von Materialien auf mikroskopischer Ebene messen. Die fortschrittliche Software und Automatisierung von HITACHI S-6000 ermöglicht es Anwendern, Beispieldaten effizient zu analysieren und zu melden. Die Software-Suite umfasst eine Reihe benutzerfreundlicher Analysewerkzeuge, darunter Partikelanalysen, automatisierte Pechmessungen, Kornmessanalysen und Filmdickenmessungen. Das Gerät ist mit einem Massenspeichergerät ausgestattet, das es mehreren Benutzern ermöglicht, auf Daten zuzugreifen, sie zu speichern und sie abzurufen, was eine kollaborative Forschung ermöglicht. Insgesamt ist HITACHI S 6000 ein hochleistungsfähiges analytisches SEM, das sich für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen eignet. Seine leistungsfähigen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, kombiniert mit Software-Tools und Automatisierung machen es zu einem idealen Werkzeug für die Materialcharakterisierung. Das Gerät bietet hohe Auflösung, überlegenen Kontrast und eine Reihe automatisierter Messfunktionen, die helfen, Proben genau zu analysieren und detaillierte Berichte schnell und effizient zu erstellen.
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