Gebraucht HITACHI S-6000 #9269110 zu verkaufen

HITACHI S-6000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen wie der Materialwissenschaft, der Nanotechnologie und der Halbleiterherstellung entwickelt wurde. HITACHI S 6000 ist in der Lage, in einer Vielzahl von Moduskonfigurationen zu arbeiten und abzubilden, einschließlich rückgestreutem Modus und Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM). In ähnlicher Weise kann das Mikroskop eine Vielzahl von Proben analysieren und Ladeeffekte eliminieren, so dass es Probenbilder in ihrem nativen Zustand originalgetreu darstellen kann. Im Lieferumfang ist ein hochauflösendes Direktdetektor- und Strahlfernsehsystem (BTV) enthalten, mit dem S-6000 Bilder von Proben mit einem besonders großen Dynamikbereich aufnehmen können. Dieses Gerät verwendet eine Elektronensäule vom monokularen Typ, die eine FE-Pistole, Linsen und Detektor, eine Standardbetriebsspannung von 40 bis 250 KV und eine flexible Verweilzeiteinstellung bis auf 1 μ s umfasst. S 6000 enthält ein einzigartiges Feature-Set, das es von ähnlich konfigurierten SEMs abhebt; Dazu gehören eine doppelspaltige monokulare Struktur, ein Pico-DSP-Beschleunigungsverfahren und eine neue SEMnavis-Software. Die Doppelsäule ist so konzipiert, dass sie einen einachsigen Betrachtungswinkel und vergrößerte Bilder liefert, die beide besser für hochauflösende Abbildungen geeignet sind als äquivalente Mikroskopsysteme mit einspaltiger Optik. Mit der Pico-DSP-Funktion von HITACHI S-6000 kann das Gerät Bilder in höheren Auflösungen aufnehmen und dabei unglaublich kurze Messzeiten beibehalten. Dies wird erreicht, indem große Elektronenbilder in kleine Teilbereiche aufgeteilt werden, wodurch der Benutzer kleine Bereiche der Probe gleichzeitig erfassen kann. Darüber hinaus ermöglicht die SEMnavis-Software dem Benutzer den vollen Zugriff auf ähnliche Einstellungen auf dem Computer des Mikroskops sowie Funktionen wie das Hinzufügen von Anmerkungen zu Elektronenbildern und das Integrieren mehrerer Bilder für eine detaillierte Analyse. HITACHI S 6000 enthält mehrere automatisierte Funktionen für einfache Bedienung. Die Maschine ist in der Lage, mehrere Stufen mit einer fein einstellbaren Abtastgeschwindigkeit schnell abzutasten und verfügt über ein integriertes Stufenausrichtverfahren. Außerdem hilft die integrierte Kollisionsvermeidungssoftware, Bewegungsfehler durch mögliche Kollisionen mit der Probenoberfläche zu beseitigen. Schließlich ist das Werkzeug mit einem Laserstrahlmonitor ausgestattet, um Anwendern zu helfen, Kontaminationsbereiche auf der Probenoberfläche zu identifizieren, was für Anwendungen wie die Materialanalyse und die Aufrechterhaltung der Sauberkeit in der Arbeitsumgebung nützlich ist. Insgesamt ist S-6000 ein außergewöhnlich zuverlässiges und effizientes Rasterelektronenmikroskop, das sich für eine Vielzahl von Anwendungen eignet. Sein vielseitiges Feature-Set und sein benutzerfreundliches Design machen S 6000 zu einer großen Wahl für Forschungslabore, industrielle und pädagogische Einstellungen gleichermaßen.