Gebraucht HITACHI S-6000 #9314123 zu verkaufen

HITACHI S-6000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Bildgebungstechnologien mit benutzerfreundlichen Bedienungswerkzeugen kombiniert. Dieses SEM bietet hohe Auflösungen für Bilder und Elementardaten für eine breite Palette von Materialien in einer Vielzahl von Probengrößen. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Bildgebungs- und Messmerkmalen einschließlich simultaner Bildgebung in Transmissions- und Abtastmodi, Scannen mehrerer Probenstücke in einem einzigen Arbeitsgang und mehreren Betriebsstufen. HITACHI S 6000 verfügt über einen integrierten hochauflösenden Sekundärelektronendetektor mit einem Bereich von 0,7 bis 35 Nanometern. Dies ermöglicht eine breite Palette kleiner Analysetechniken wie Bildgebung, Elementaranalyse und Partikeldimensionierung. Es verfügt außerdem über ein EDS-Erkennungsmodul (Energy-Dispersive Spectroscopy), das elementare Kompositionsdaten bereitstellt. Seine bildgebenden Fähigkeiten werden durch Funktionen wie variable Spannungsabbildung weiter verbessert, was eine breite Palette von Winkeln und Tiefen der Analyse ermöglicht. Es gibt auch eine Reihe von Bedienungswerkzeugen, einschließlich Auto-Zentrierung, automatisierte Filament Verzerrung Analyse, und automatisierte Fokus Variation. Die halbautomatisierte Probenstufe von S-6000 ermöglicht auch einen effizienten Betrieb mit schneller Positionierung der Proben und der Möglichkeit, mehrere Proben gleichzeitig zu scannen. Es unterstützt eine breite Palette von Musterhaltern wie Stummel, Stifte und Gitter, für eine Vielzahl von bildgebenden Anforderungen. S 6000 enthält auch eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen. Zusätzlich zur Softwareüberwachung zur Erkennung eines anormalen Betriebs ist das SEM mit Schutzschalen zum Schutz vor Röntgenbelichtung, Staub oder Beschädigung ausgestattet. Es verfügt auch über ein Kühlwassersystem, um das Risiko einer Überhitzung während langer Betriebszeiten zu reduzieren. Insgesamt ist HITACHI S-6000 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das eine hohe Auflösung und eine breite Palette von Bildgebungs- und Messfunktionen bietet. Seine halbautomatische Probenphase reduziert erheblich die Zeit und den Aufwand für die Positionierung und Analyse von Proben und macht es zu einer großen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen im kleinen Maßstab.