Gebraucht HITACHI S-650 #9080003 zu verkaufen

HITACHI S-650 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich zur hochpräzisen Analyse und Beobachtung der Mikrostrukturen oder Oberflächentopographie von Materialien und Mikrometerkomponenten eignet. Dieses SEM verfügt über eine große Kammer, die die Untersuchung von Proben bis zu 7 cm Breite und bis zu 5,5 cm Höhe ermöglicht. Es kommt auch mit großen Proben Stufen ausgestattet, so dass die Einführung von Proben, die größer als die mit anderen herkömmlichen SEMs möglich sind. S-650 verfügt über einen hochauflösenden TSE-Detektor mit hoher Empfindlichkeit und einem breiten Dynamikbereich zur Erfassung der hochempfindlichen Niederspannungsbilder, die in den heutigen nanotechnologischen Studien immer wichtiger werden. Dieser Detektor hat einen Elektronenstrahlstrom von 200mA und eine Vergrößerung im Bereich von 5 ~ 500k. Es wird auf eine Auflösungsleistung von etwa 0,7 nm mit einer Beschleunigungsspannung von 0,2 bis 15 kV geschätzt und kann sowohl für Hochgeschwindigkeits- als auch für Hochpräzisionsscans verwendet werden. Die primären Abtastmodi an diesem SEM sind Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen. Mit sekundären Scans für flache, nicht leitende Proben können hochauflösende SEM-Bilder und Tiefenprofile erzeugt werden. Abgesehen davon ist HITACHI S-650 auch mit zwei verschiedenen Back-Scatter-Detektoren ausgestattet, die Ihnen neben der automatischen Fokussierung und Stigmation einen Steuer- und Fokussierstrom bieten. S-650 ist mit einer großen Operation Unit ausgestattet, die die Erfassung zweidimensionaler Informationen auf einmal ermöglicht. Mit diesem Merkmal kann der Benutzer beobachten, wie die Probe auf den Elektronenstrahl reagiert, wodurch Elektronenstrahlform, Strom, Position und Abtastbereich gesteuert und manipuliert werden können. Zusätzlich zu seinen hohen Leistungsfähigkeiten der Abtastung des Elektronmikroskops (SEM) kommt HITACHI S-650 auch mit einem einheitlichen System von Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) für die chemische Zusammensetzungsanalyse. Dieses Merkmal ist in der Lage, verschiedene Elemente zu erfassen und deren relative Konzentrationen in einer bestimmten Probe bis zu einigen Prozentpunkten zu messen. Abschließend bietet S-650 eine Vielzahl von Merkmalen und Funktionen, die auf die Erzielung einer hochpräzisen SEM-Bildgebung ausgerichtet sind. Seine große Kammer, hochauflösender TSE-Detektor, integriertes EDS-System und benutzerfreundliche Bedieneinheit, ermöglichen eine präzise Bildgebung, chemische Zusammensetzung Analyse und Manipulation der Elektronenstrahl-Form und Strom.