Gebraucht HITACHI S-806-C #85052 zu verkaufen

HITACHI S-806-C ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), mit dem Bilder von mikroskopischen Objekten erfasst werden können. Es verwendet einen Rasterelektronenstrahl, um Informationen im Zusammenhang mit den mikroskopischen Merkmalen einer Probe zu sammeln und zu analysieren. Das Gerät verfügt über eine Digitalkamera, die in hohen Auflösungen bis zu 1,2 Megapixel aufnehmen kann, während das Mikroskop selbst Objekte bis zu dem 400.000-fachen ihrer Größe vergrößern kann. Darüber hinaus verfügt das System über ein umfassendes Bedienfeld, mit dem Benutzer die x-, y- und z-Stufen des Mikroskops genau einstellen können, so dass das genaue Bild von Interesse erfasst werden kann. Die Vakuumkammer des Mikroskops enthält eine Anordnung von Elektronenoptiken zur Steuerung der Position und Richtung des Elektronenstrahls. Innerhalb der Vakuumkammer befindet sich eine Ionenpistole zur Herstellung von Elektronen mit höherer kinetischer Energie, die eine hochauflösende Abbildung bei großen Vergrößerungen ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop so konzipiert, dass sowohl die Aufladung als auch die Artefakte aus seinem Elektronenstrahl minimiert werden, wodurch Bilder höherer Qualität erhalten werden können. Die Navigations- und Bildgebungswerkzeuge des Geräts sind äußerst benutzerfreundlich und effizient und eignen sich somit ideal für den Einsatz in vielen industriellen und wissenschaftlichen Anwendungen. Die Navigationswerkzeuge ermöglichen die einfache und genaue Kontrolle der Geschwindigkeit, mit der sich der Elektronenstrahl auf der Probenoberfläche bewegt, zusammen mit einer Vielzahl von Bildaufnahmeparametern, einschließlich Helligkeit und Kontrast. Darüber hinaus ermöglichen die bildgebenden Werkzeuge die Erfassung von analytischen Bildern wie der energiedispersiven Spektroskopie (EDS) und der Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS). Darüber hinaus ist die Maschine mit verschiedenen Funktionen ausgestattet, die es ihr ermöglichen, eine Reihe von Analysetechniken durchzuführen. Dazu gehört die Fähigkeit, elementare Verteilungen und mechanische Eigenschaften einer Probe im Atommaßstab zu lokalisieren. Darüber hinaus enthält das Tool eine Reihe von Softwarepaketen, um die gesammelten Daten zu visualisieren und genaue und detaillierte 3D-Modelle zu erstellen. Dies macht es ideal für verschiedene bildgebende Techniken und Analyseanwendungen. Insgesamt bietet S-806-C Rasterelektronenmikroskop eine hochwertige Lösung zur Aufnahme von Bildern aus mikroskopischen Objekten. Es verfügt über leistungsstarke Imaging-Tools, eine umfassende Steuerung und eine Reihe von Analysefunktionen und ist damit das ideale Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen.