Gebraucht HITACHI S-806 #9281005 zu verkaufen
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ID: 9281005
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution:
6 mm (60Å) - 25KV
20 nm(200Å) - 1KV
Mag: 50x ~ 100,000x
Specimen stage:
Movement range: X and Y O to150 mm
Stage drive: Pulse motor
Control: Joystick control (Auto eucentric)
Z (WD): 5 ~ 35 mm
Rotation: 360°
Tilt: 0 ~ 60
Wafer loader:
Manual loading (Holder, 6")
Electron optics
Electron gun: Cold field emission type
Accelerating voltage: 0.5 ~ 5 kV (0.1kV step)
5 ~ 25 kV (kV step)
Extract voltage: 0 ~ 6.3 kV
Lens system:
Electromagnetic condenser lens systems
FCM Objective
Secondary electron detection: 2-Stages detection system
Objective lens aperture: Heating type movable aperture
4 Openings selectable
Outside column (Fine adjustment)
Scanning coll: 2-Stages deflection
Stigmator coil: (8) Poles electromagnetic type (X,Y)
Control and display system:
Scanning modes
Safety
Device CRT
Ion coater and pumps
Damaged parts:
Broken sample secondary electron image, 6"
Broken sample-holder.
HITACHI S-806 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um überlegene bildgebende Leistung und Präzisionsmessungen zu erreichen. Es verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, bietet hohe Helligkeit Einstrahl Beleuchtung mit Ultra-Low-Strahl-Strom und Dosisraten für überlegene Bildgebung und geringe Rauschleistung. Darüber hinaus ermöglicht HITACHI S806 präzise Messungen und Bedienung durch elektronische digitale Bildgebung, einen flüssigstickstoffgekühlten Scanning Image Processor (SIP) und ein HITACHI proprietäres Device Temperature Control (DTC) System, das eine gleichbleibende Leistung unabhängig von der Umgebungstemperatur bietet. Die FEG-Elektronenquelle von S 806 enthält eine neu entwickelte Elektronensäule, die eine große Stabilität und Kontrolle über Strahlausrichtung und Punktgrößen bietet. Es kann eine Reihe von Elektronenbeschleunigungsspannungen erzeugen, die von 3-100kV für weitreichende Anwendungen reichen. S806 liefert überlegene rauscharme Bilder durch den Einsatz von minimalem Strahlstrom und sowohl hochauflösenden ADCs als auch einem rauscharmen Vorverstärker. S-806 bietet auch hohe Präzision und Auflösung durch sein großes Arbeitsabstand Objektiv, das mit Fernantriebsstufen gesteuert werden kann. Seine X-Y-Stufe ist in der Lage, serielles Scannen mit hoher Geschwindigkeit und ist mit zweistufigen Antriebssystemen für die Einstellung von Spitze und Neigung ausgestattet. Das fortschrittliche SIP produziert digitalisierte Bilder mit hervorragenden Auflösungs- und Rauschverhältnissen und der DTC sorgt für eine schnelle Bildeingabe mit verbesserter Bildqualität. HITACHI S 806 verfügt auch über eine Vielzahl anderer benutzerfreundlicher Funktionen wie computergesteuerte Bedienung, Echtzeit-Bildanalysefunktionen und X-Y-Bereichsbildanzeigefunktionen. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-806 über ein ergonomisches Design, wobei das Bedienfeld und die Bildverarbeitungsabschnitte weiter auseinander gelegt werden, um den Bedienkomfort zu verbessern. Schließlich ermöglicht die erweiterte Software Mehrbenutzerbetrieb und eine Auswahl an Mess- und Analysewerkzeugen, so dass HITACHI eine ausgezeichnete Wahl für wissenschaftliche Labore S806.
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