Gebraucht HITACHI S-8620 #293616218 zu verkaufen

Das HITACHI S-8620 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein multifunktionales Instrument, das für die anspruchsvollsten Anwendungen in der Materialwissenschaft und -forschung entwickelt wurde. Es verfügt über eine große abgedichtete Kammer mit einer ergonomisch gestalteten pyrolytischen Graphitanode, die eine ausgezeichnete Bildqualität und geringe Hintergrundgeräusche bietet. HITACHI S 8620 verfügt über ein modernes Secondary Electron Imaging (SEI) -Gerät, mit dem Forscher bis zu dreidimensionale Details einer Probe mit ausgezeichneter Auflösung erfassen können. Neben SEI verfügt das Instrument über mehrere weitere Detektortechnologien wie das Electron Energy Loss Spectrum (EELS), Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) und Cathodoluminescence. S-8620 enthält auch einen hochauflösenden Everhart Thornley-Detektor für kontrastreiche Bilder und Mikroanalyse von nichtleitenden Materialien wie Polymeren und Low-kV-Proben. Während S 8620 Proben sogar bis zu einigen Nanometern Größe abbilden kann, verfügt das Instrument über einen In-Column-Scan-Generator zur Erzeugung von Bildern in Einzelatomauflösung mit bis zu 10.000 × voller Vergrößerung. HITACHI S-8620 kommt auch mit einer Vielzahl von Umwelt-Zubehör, wie Heizung und Kühlung Stufen, eine drehbare Stufe mit variabler Geschwindigkeit manuelle Bewegung, und ein variabler Druck Gaseinspritzsystem. Dieses Gerät ermöglicht eine schnelle und genaue Abtastung und Abbildung von Proben unter variablen. Darüber hinaus kann das SEM optional für cryo-SEM-Anwendungen ausgerüstet werden. Wenn es um die Bedienung und Steuerung geht, verfügt HITACHI S 8620 über eine moderne Steuerungsmaschine mit Schnellauswahl-Zifferblättern, On-Screen-Software-Menüs und einer Touch-Panel-Schnittstelle, die eine einfache Einrichtung und Bedienung ermöglicht. Das Instrument verfügt auch über konventionelle und Multi-Beam-Scan-Modi und eine Reihe von Softwarepaketen mit leistungsstarken Analyse- und Tracking-Funktionen. Das gesamte Tool kann nach Kundenwunsch konfiguriert werden, mit zusätzlichen Software-Tools und Optionen. Insgesamt ist S-8620 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hohe Leistung und ausgezeichnete Bildqualität mit fortschrittlichen Kontrollsystemen und den neuesten fortschrittlichen Detektortechnologien kombiniert. Die Musterkammerdesign und die breite Palette an Umweltzubehör macht es für eine breite Palette von Anwendungen in der Forschung und Materialwissenschaft geeignet.