Gebraucht HITACHI S-8640 #9093024 zu verkaufen

HITACHI S-8640 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen und technischen Anwendungen eingesetzt wird. Es wurde entwickelt, um Bilder von bis zu 3.500x Vergrößerung zu erzeugen, so dass es ideal für die Abbildung von nanoskaligen Objekten und Funktionen. S-8640 ist in der Lage, dreidimensionale Bilder von Probenoberflächen und Unterflächenmerkmalen trotz rauher oder unebener Oberflächen zu erfassen. Dies geschieht durch seine Elektronenstrahl-Abtasteinrichtung, die ein sehr detailliertes Bild der Probe aufnimmt. Der Rasterelektronenstrahl wird auf hohe Energieniveaus beschleunigt, was verbesserte Auflösungsmessungen bis auf 1 nm ermöglicht. Der Strahl kann kleine Unterschiede im Oberflächen- oder Unterflächenmaterial erfassen, was ein klares Bild der Morphologie der Probe ermöglicht. HITACHI- S-8640 können unter einer Reihe von Betriebsbedingungen arbeiten, einschließlich Niedervakuum und Hochvakuum-Modi, so dass es in einer Vielzahl von Umgebungen arbeiten. Darüber hinaus kann das SEM in der anorganischen oder organischen Materialforschung verwendet werden, mit einer niedrigen Dosierung, die Schäden an empfindlichen Proben minimiert. Das SEM ist sowohl mit In-Linsen- als auch mit Side-View-Detektoren ausgestattet, um qualitativ hochwertige, dreidimensionale Bilder der Probenoberfläche und -struktur bereitzustellen. Der Sekundärelektronendetektor dient zur Erzeugung kontrastreicher Bilder der Probenoberfläche und kann niedrige Ordnungszahlelemente wie Kohlenstoff identifizieren. Rückstreuelektronen können verwendet werden, um schwerere Elemente in Proben, bildkristallographische Orientierung zu detektieren oder topographische Informationen zu erzeugen. Darüber hinaus ist S-8640 auch mit einem EDS-System ausgestattet, um die elementare Zusammensetzung der Probe zu differenzieren. Die energiedispersive Röntgeneinheit (EDS) verwendet die Röntgenemission aus der Probe, um eine Karte der elementaren Zusammensetzung der Proben zu erstellen. Die Maschine nutzt eine Energiefilterfunktion, die verbesserte Erkennungsgrenzen ermöglicht. Zusammenfassend ist HITACHI S-8640 Scanning Electron Microscope ein wesentliches Werkzeug für die Untersuchung und Analyse von nanoskaligen Materialien und Merkmalen. Es ist eine wirksame Hilfe für die Untersuchung von anorganischen und organischen Materialien, die die Erzeugung detaillierter dreidimensionaler Bilder und elementarer Karten ermöglicht. Das Mikroskop ist auf eine Vielzahl von Forschungsbereichen anwendbar und somit ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von wissenschaftlichen und technischen Anwendungen.