Gebraucht HITACHI S-8640 #9179410 zu verkaufen

HITACHI S-8640 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein analytisches Instrument, das es seinen Anwendern ermöglicht, die physikalischen und chemischen Eigenschaften kleiner Oberflächenteilchen zu analysieren. S-8640 bietet eine zuverlässige und leistungsstarke Abbildungsplattform für Rasterelektronenmikroskopie in Kombination mit leistungsstarken Automatisierungstechnologien. Das fortschrittliche SEM-Design des Instruments bietet erstklassige Bildgebungsfunktionen mit hochpräzisen automatisierten Prozessen. Es bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Techniken wie sekundäre Elektronenbildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung, Röntgenmikroanalyse (EDX/EBSD) und TEM/STEM-Bildgebung. Die hochauflösenden Scanfunktionen von HITACHI S-8640 ermöglichen es, eine überlegene Bildqualität von Oberflächen bis zu einer Auflösung von 0,5 nm bereitzustellen. Das bildgebende System hat auch die Fähigkeit, Neigung, Scanbereich, Bildqualität und Geschwindigkeit automatisch anzupassen, um Bilder von höchster Qualität zu erhalten. Darüber hinaus verwendet S-8640 eine Reihe von Probenhaltern für verschiedene Arten von Proben, mit der Fähigkeit, Proben automatisch auf das bildgebende System auszubilden. Das Mikroskop ist darüber hinaus mit einer Vielzahl von Navigationsfunktionen ausgestattet, darunter mehrachsige Steuerung, Mapping-Navigation und zugängliche interne Datenbanken. Es verfügt auch über eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, die es Benutzern ermöglicht, einfach und schnell durch das Bildgebungssystem mit seiner dedizierten Software zu navigieren. In Bezug auf Analysefunktionen hat HITACHI S-8640 die Möglichkeit, Oberflächenmerkmale wie Topographie, Rauheit und Korngröße zu messen. Es liefert auch Echtzeitdaten für metallographische Analysen sowie elementare (EDX/EBSD) Analysen für elementare Zusammensetzungen. Das Mikroskop ermöglicht es Anwendern auch, Mikroanalyse und Beobachtungsaufgaben mit Genauigkeit und Präzision durchzuführen. Abschließend ist S-8640 Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches analytisches Instrument, mit dem Anwender die physikalischen und chemischen Eigenschaften kleiner Oberflächenteilchen mit überlegenen bildgebenden Fähigkeiten analysieren und beobachten können. Das Instrument ist mit leistungsstarken Automatisierungstechnologien, einer Reihe von bildgebenden Systemen, Navigationsmerkmalen und vielseitigen Analysefunktionen ausgestattet und ist somit die perfekte Wahl für Forschungsprofis und Laboratorien.