Gebraucht HITACHI S-8C40 #139924 zu verkaufen

HITACHI S-8C40 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer einzigartigen Kombination aus hoher Auflösung, großem Sichtfeld und Benutzerfreundlichkeit. Das Instrument bietet eine breite Palette an Möglichkeiten von hochauflösender Bildgebung über Elementaranalyse bis hin zur 3D-Rekonstruktion. S-8C40 ist mit einem hochauflösenden großflächigen Sekundärelektronendetektor (SE) für die Bildgebung und einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) für die Elementaranalyse ausgestattet. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über ein optionales Niedrigvakuumsystem für eine qualitativ hochwertigere Bildgebung. HITACHI S-8C40 verfügt über einen Beschleunigungsspannungsbereich von 1-20kV, der die Abbildung und Analyse einer Vielzahl von Proben mit hoher Genauigkeit ermöglicht. Der hochauflösende Sekundärelektronendetektor sorgt für scharfe Bilder mit hoher Vergrößerung. Das SEM verfügt außerdem über ein automatisiertes Filmgerät, mit dem Bilder jederzeit gespeichert und angesehen werden können. Darüber hinaus verfügt S-8C40 über einen automatisierten Stigmator, der eine präzise Einstellung des Abtaststrahls ermöglicht. HITACHI S-8C40 unterstützt die schnelle 3D-Rekonstruktionsanalyse mit der optionalen Software. Dies ermöglicht die Erzeugung der Bilddaten in 3D-Modellen mit wenigen Klicks. Die Software ermöglicht auch die Einstellung von Parametern wie Vergrößerung, Rotation und anderen Einstellungen. Die 3D-Rekonstruktionsanalyse ist nützlich für verschiedene Studien einschließlich morphologischer und struktureller Analyse. Darüber hinaus können S-8C40 mit dem installierten energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) eine elementare Analyse von Proben durchführen. Dies geschieht durch Registrierung der charakteristischen Röntgenstrahlung, die von der Probe emittiert wird, um die vorhandenen Elemente zu identifizieren. Das EDS kann sowohl im SEM-Modus als auch im Transmissionselektronenmikroskopie-Modus (TEM) für eine umfassende Elementaranalyse betrieben werden. Abschließend ist HITACHI S-8C40 ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen von hochauflösender Bildgebung bis zur Elementaranalyse eingesetzt werden kann. Das SEM bietet ein erweitertes Feature-Set mit einem hochauflösenden Sekundärelektronendetektor und einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) für eine schnelle 3D-Rekonstruktion und Elementaranalyse. Die Hardware- und Softwarefunktionen von S-8C40 sorgen für hochwertige Bilder und eine genaue Analyse von Proben.