Gebraucht HITACHI S-9160 #9046466 zu verkaufen

HITACHI S-9160 ist ein von HITACHI High-Technologies entwickeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Diese Art von SEM ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben auf den Mikrometer- und Nanometerskalen bereitzustellen. S-9160 verfügt über einstellbare Beschleunigungsspannungen von 1 kV bis 30 kV und stabile Primär- und Sekundärelektronensignale, so dass es für die Abbildung einer breiten Palette von Materialien geeignet ist. HITACHI S-9160 ist ein analytisches SEM, das verwendet werden kann, um eine Vielzahl von Experimenten durchzuführen, die von grundlegender SEM-Bildgebung über energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) Stammbildgebung reichen. Mit dem Mikroskop kann die Oberfläche einer Probe abgebildet und analysiert werden, um deren Struktur, elementare Zusammensetzung und Topographie zu identifizieren. Das Mikroskop bietet auch eine Reihe von analytischen Fähigkeiten wie Sekundärelektronenbildgebung, dynamische Sekundärelektronenbildgebung und Z-Kontrast-Bildgebung. Diese Fähigkeiten eignen sich ideal zur Untersuchung von Feinstrukturen sowie Dünnschichten und Isolierfolien. Darüber hinaus ist S-9160 mit einer TFE (Thermal Field Emission Gun) ausgestattet, die eine hervorragende Auflösung und Kontrast zu geringen Geräuschpegeln bietet. Das EDS-System von HITACHI S-9160 wird von einem Computersystem angetrieben und bietet energieautomatische Auswahl, quantitative Analyse und Echtzeit-Elementmapping. Das EBSD-System wird verwendet, um die kristallographische Textur einer Probe zu analysieren, und es kann verwendet werden, um Phasen zu identifizieren, sowie Gitterparameter zu messen. S-9160 ist bei Temperaturen bis -200 ° C und bis 1000 ° C betriebsbereit. Das Mikroskop umfasst eine temperaturgesteuerte Stufe, die eine In-situ-Abbildung und Analyse von Proben ermöglicht. Auf diese Weise können Benutzer die Auswirkungen von Temperaturänderungen auf ihre Proben untersuchen. HITACHI S-9160 ist ein leistungsstarkes SEM, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Es bietet hochauflösende Bildgebung, robusten Bildkontrast und viele analytische Funktionen. Darüber hinaus ist es aufgrund seiner temperaturgeregelten Stufe und seiner Vielzahl von bildgebenden Optionen eine ausgezeichnete Wahl für die Untersuchung der Struktur, Zusammensetzung und des Verhaltens vieler verschiedener Arten von Materialien.