Gebraucht HITACHI S-9280 #9200123 zu verkaufen

HITACHI S-9280 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug, das eine detaillierte Untersuchung von Materialien im Nano- und Mikrobereich ermöglicht. Mit seiner fortschrittlichen Elektronenoptik und seinen automatisierten Funktionen bietet es hervorragende Bildgebungs-, Detektions- und Messfähigkeiten mit unübertroffener Auflösung. S-9280 SEM nutzt einen Rasterelektronenstrahl, um detaillierte 3D-Bilder der kristallinen Struktur von Analyseproben zu erfassen. Es ist mit Counter-Bias-Bildgebungstechnologie ausgestattet, die es dem Elektronenstrahl ermöglicht, die Probe zu passieren und gleichzeitig eine negative Vorspannung zwischen -500V und -5kV zu erzielen. Dies ermöglicht die Erfassung hochauflösender Bilder mit verbessertem Kontrast gegenüber herkömmlichen SEM-Systemen. HITACHI S-9280 ist mit einem Multi-Mode-Detektor ausgestattet, der als Energieanalysator fungiert und Bilder erzeugt, die auf unterschiedlichen Eigenschaften der aktuellen Wechselwirkung zwischen Probe und Elektronenstrahl basieren. Dies ermöglicht die Analyse unterschiedlichster Materialien, darunter Metalle, Halbleiter, Polymere und Keramiken. S-9280 bietet eine hochempfindliche elementare Zusammensetzungsanalyse mit Energy Dispersive Spectroscopy (EDS). Die EDS-Einheit ist auf einem verstellbaren Probenarm montiert, so dass sie für eine optimale Leistung positioniert werden kann. Durch dieses System können Anwender elementare Zusammensetzungen von Proben schnell und genau charakterisieren, mit Nachweisgrenzen bis zu 10ppm. Der Niedervakuumtisch von HITACHI S-9280 ist für optimale Scanmöglichkeiten ausgelegt und kann sowohl im konventionellen als auch im Niedervakuummodus betrieben werden. Mit seinem sekundären Elektronendetektor können Benutzer den Niedervakuum-Modus nutzen, um Bilder mit höherem Kontrast und höherer Auflösung zu erhalten. Um die Struktur ausgewählter Bereiche zu analysieren, bietet S-9280 ein breites Spektrum an bildgebenden und messenden Möglichkeiten. Über die automatisierte Schnittstelle können Anwender in Sekundenschnelle Probendicke, Oberflächentopographie, Kristallstruktur, Partikelgröße und mehr messen. Zusätzlich können optische Bilder auch über optische In-Column-Bauelemente aufgenommen werden. Die fortschrittliche Steuerungssoftware von HITACHI S-9280 erleichtert den Betrieb und ermöglicht es Benutzern, Daten schnell zu erfassen, zu analysieren und zu speichern. Es ermöglicht auch die Fernbedienung des Instruments, ermöglicht Fernzugriff und Datenaustausch. Zusammenfassend ist S-9280 Rasterelektronenmikroskop ein überlegenes bildgebendes Werkzeug mit leistungsstarken Fähigkeiten, die es ermöglichen, die Struktur der Proben genau und schnell zu analysieren. Seine automatisierten Eigenschaften und Funktionen vereinfachen und beschleunigen die Charakterisierung verschiedener Materialien erheblich und machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug auf dem Gebiet der Nano- und Mikroskalenforschung.