Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9198864 zu verkaufen

ID: 9198864
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" 2006 vintage.
Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-9380 Type II (SEM) ist ein hochauflösendes Bildgebungswerkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Werkstoffwissenschaft bis zur Metallographie. Das SEM besteht aus einer Elektronenkanone, die einen Elektronenstrahl erzeugt, und einem Bildverstärker, der das Bild der Probe vergrößert. Der Elektronenstrahl wird durch eine kleine Öffnung in der Probe, eine Apertur genannt, geleitet, um ein Bild der Probe bei sehr hohen Vergrößerungen zu erzeugen. S-9380 Typ II bietet bis zu 50.000x Vergrößerung der Probe und verfügt über eine große Schärfentiefe, so dass Bilder von sehr dünnen Proben erhalten werden können. Darüber hinaus ermöglichen die vom Mikroskop erzeugten hochauflösenden Bilder extrem präzise Messungen von Partikeln und Merkmalen. Das Mikroskop kann auch verwendet werden, um Elektronen-Rückstreuung (EBSD) Analyse durchzuführen, dank seiner großen Elektronenstrom und Strom-Energie-Regelung. Weitere Merkmale dieses Mikroskops sind eine verbesserte Quarzbeschichtung, die dünne Schichten für die Beschichtung von Proben erzeugt, sowie eine Stufenkippsteuerung, die die Beobachtung von geneigten Oberflächen ermöglicht. Es enthält auch eine hochauflösende Kamera mit 1024x1024 Pixeln zur Aufnahme scharfer Bilder und drei automatisierte Stufen, die die Probenanalyse erleichtern. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine Kontraststeuereinheit, die es dem Benutzer ermöglicht, den Kontrast in einem Bild anzupassen, um die Sichtbarkeit zu verbessern. HITACHI S-9380 Type II ist für einen effizienten und zuverlässigen Betrieb ausgelegt und verfügt über einen digitalen Monitor, der die verschiedenen Bilder des Mikroskops anzeigt. Es ist mit einem intuitiven Bedienfeld ausgestattet, das die Bedienung einfach und intuitiv macht, auch für den Anfänger. Insgesamt ist S-9380 Typ II ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das es Anwendern ermöglicht, eine Vielzahl von Materialien bei sehr hoher Vergrößerung genau zu untersuchen und zu analysieren. Durch die Bereitstellung von hochauflösenden Bildern, hoher Schärfentiefe und Kontraststeuerung ermöglicht das Mikroskop Benutzern eine Vielzahl von Aufgaben, die präzise Messungen und detaillierte Analysen erfordern.
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