Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9198865 zu verkaufen

HITACHI S-9380 Type II
ID: 9198865
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2007
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" 2007 vintage.
HITACHI S-9380 Type II ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochenergetische bildgebende und analytische Technik verwendet, um ein vergrößertes Bild einer Probe zu erzeugen. Das bildgebende Gerät besteht aus einer Elektronenkanone, Linsen und Detektoren, die verwendet werden, um die Elektronen zu detektieren, die von der Probenoberfläche unter Elektronenbeschuss emittiert werden. Die Elektronenkanone ist ein Elektronenemitter, der die Elektronen erzeugt, die für die Abtastung der Probenoberfläche zur Bildgebung benötigt werden. Dann werden Linsen verwendet, um die Elektronen auf die Probenoberfläche zu fokussieren und einen Strahl zu bilden. Schließlich sammeln die Detektoren die von der Probe zurückgestreuten Elektronen und werden zur Bildung der Bilder verwendet. Die primäre Anwendung eines SEM ist für die Bildgebung und Messung von Proben bei höheren Vergrößerungen als optische Mikroskope bieten können. S-9380 Typ II hat einen Standardvergrößerungsbereich von bis zu 0,5 nm und eine maximale Vergrößerung von 10,000X. Mit dieser erhöhten Auflösung ist das System in der Lage, viel kleinere Funktionen und eine höhere Auflösung als herkömmliche optische Mikroskope zu erkennen. Das Gerät bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, die die Visualisierung von Proben auf verschiedenen Detailebenen ermöglichen. Dazu gehören der Einsatz von Sekundärelektronen (SE) -Bildgebung, BSE-Bildgebung und hochwinkligen ringförmigen Dunkelfeldscanning sowie der Einbau der Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) -Technologie. Die Maschine hat einen Arbeitsabstand von 8 mm und kann Proben bis zu 48mm Durchmesser aufnehmen. Es verfügt über ein 3-Achsen-Encoder-Tool zur Probenpositionierung und ein digitales Autofokus-Asset. Das Modell umfasst auch eine Vielzahl von Softwarefunktionen wie 3D-Messung, 3D-Tomographie und Präzisionscharakterisierungssoftware. Darüber hinaus ist HITACHI S-9380 Type II in der Lage, Niedervakuum und variablen Druck abzubilden, so dass der Benutzer Proben in Echtzeit bei atmosphärischem oder Vakuumdruck untersuchen kann. Dies ist ein nützliches Merkmal für die Messung von Oberflächen, die empfindlich auf die Auswirkungen des atmosphärischen Drucks sind, sowie für die Untersuchung der feineren Details der Oberfläche einer Probe. Insgesamt ist S-9380 Typ II ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Proben mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Detailgenauigkeit abbilden und charakterisieren kann. Es bietet eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, sowie einzigartige Funktionen wie Niedervakuum und variable Druck Bildgebung, so dass es eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.
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