Gebraucht HITACHI S-9380 Type II #9243636 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S-9380 Type II ist ein zuverlässiges, hochauflösendes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien im Nanoskalibereich. Dieses fortschrittliche Instrument kombiniert fortschrittliche Probenvorbereitungstechniken mit leistungsstarken bildgebenden Funktionen, um eine umfassende und vielseitige Plattform für den Umgang mit harten und weichen Proben zu bieten. S-9380 Typ II ist mit einer hochenergetischen SEM-Säule ausgestattet, die Elektronen bis zu einer Energie von 30 kV beschleunigen kann. Diese leistungsstarke Spalte ermöglicht es dem Gerät, im Vergleich zu herkömmlichen SEM-Instrumenten Bilder höherer Auflösung zu erzeugen. Zusätzlich ist das System mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer ausgestattet, das es dem Anwender ermöglicht, die elementare Zusammensetzung einer Probe genau zu messen und zu identifizieren. HITACHI S-9380 Type II ist auch mit einem hochauflösenden Rasterelektronendetektor ausgestattet, der Bilder mit Auflösungen bis zu 5 nm sammeln kann. Diese hochwertige Abbildungseinheit eignet sich ideal zur genauen Identifizierung kleiner Partikel und sogar subzellulärer Strukturen in einer Probe. Darüber hinaus ermöglicht die Maschine eine Vielzahl von Oberflächenanalysetechniken, wie sekundäre Ionenmassenspektrometrie und Atomkraftmikroskopie. Diese analytischen Techniken ermöglichen es dem Benutzer, die Eigenschaften und die chemische Zusammensetzung eines Materials auf der Nanoskala zu verstehen und zu analysieren. Darüber hinaus stellt S-9380 Typ II Benutzern ein dediziertes Werkzeug zur Bearbeitung von Mustern zur Verfügung. Diese Ausstattung ermöglicht es dem Anwender, Dünnschicht- und andere empfindliche Proben mit großer Präzision und Genauigkeit vorzubereiten. Darüber hinaus bietet das Modell dem Anwender eine einfache Lösung für den Probentransport und Austausch über eine computergesteuerte Stufe. Zusammenfassend ist HITACHI S-9380 Type II eine hochwertige Rasterelektronenmikroskopausrüstung, die Anwendern eine gut abgerundete Plattform zur Bildgebung und Analyse einer breiten Palette von Materialien auf der Nanoskala bietet. Dieses fortschrittliche System ist mit einer leistungsstarken SEM-Säule, einem hochauflösenden Detektor und zahlreichen Probenvorbereitungs- und Analysefunktionen ausgestattet, um eine umfassende und vielseitige Forschungs- und Bildgebungserfahrung zu gewährleisten.