Gebraucht HITACHI S-9380 #9167160 zu verkaufen

HITACHI S-9380
ID: 9167160
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2004
CD Scanning electron microscope, 12" Currently warehoused 2004 vintage.
HITACHI S-9380 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung und Charakterisierung in einer Vielzahl von Anwendungen. Es ist mit hochempfindlicher Multi-Detektor (HSMD) -Technologie ausgestattet, die eine Bildgebung mit geringer Vergrößerung, eine hochauflösende Bildgebung und die gleichzeitige Verwendung von EBSD-Messungen (Electron Backscatter Diffraction) und EDS-Messungen (Energy Dispersive) ermöglicht. Damit ist HITACHI S9380 ein vielseitiges Instrument, das analytische Informationen zur Verbesserung der bildgebenden Funktionen bereitstellen kann. S 9380 ist in der Lage, hochauflösende Bilder bis zu 8 nm Auflösung bei niedrigen Vergrößerungen mit sekundären und rückgestreuten Elektronen. Diese Auflösung wird durch die hohe Helligkeit, hohe Stabilität und hohe Auflösung der Elektronenkanone des Mikroskops erreicht. Bei hohen Vergrößerungen (bis 1000x) ist ein Elektronensondendurchmesser bis zu 0,3 nm möglich. Der Sondenstrom wird automatisch angepasst, um eine möglichst hohe Auflösung zu erzielen. Das SEM ist mit einer Vakuumkammer mit einem Basisdruck von 1 x 10-7 Pa ausgestattet, wodurch nichtleitende Proben beobachtet werden können, die sonst durch den Elektronenstrahl beschädigt würden. Die Kammer verfügt außerdem über ein automatisiertes Gaseinspritzsystem, das die Einleitung eines Inertgases ermöglicht, um die Vakuumstabilität zu verbessern und die Aufladung der Probe zu reduzieren. HITACHI S 9380 kann auch verwendet werden, um EBSD und EDS Messungen während der Bildgebung zu machen. Bei EBSD-Messungen ist der Detektor sowohl für die Kristallstruktur als auch für die Orientierung der zu beobachtenden Materialprobenoberfläche empfindlich. Es kann auch verwendet werden, um qualitative und semi-quantitative Elementverteilungen in der Probe zu messen. S-9380 eignet sich ideal für den Einsatz in der Materialwissenschaft, Mikroelektronik, Materialrückstreuung, Halbleitercharakterisierung und einer Vielzahl weiterer Forschungsbereiche. Es ist einfach zu bedienen, relativ kostengünstig und bietet eine unschlagbare Auflösung und Kontrast.
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