Gebraucht HITACHI S-9380 #9244867 zu verkaufen

HITACHI S-9380 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Elektronenstrahlanalyse. Das Mikroskop verfügt über eine integrierte elektrostatische Linse und eine starke Magnetstruktur für hervorragende Kartierungsleistung und 5 nm Auflösung. Mit seiner fortschrittlichen Bildgebungstechnologie, dem hochgenauen EDX-Detektor und den automatisierten Computersteuergeräten ist HITACHI S9380 ein leistungsstarkes Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsbereichen. S 9380 verwendet ein System aus elektrostatischer Linse und elektromagnetischen Spulen, um seine hohe Auflösung zu erreichen. Eine Elektronenquelle leitet Elektronen durch die Linseneinheit, um eine hochpräzise Abbildung zu ermöglichen. Zusätzlich werden zur Steuerung des Elektronenstrahls eine starke Anode, zwei Paare von vertikalen und horizontalen Ablenkern und ein Faraday-Becher verwendet. Dieser Rechner gewährleistet eine gleichbleibende Bildqualität und ermöglicht die Anwendung optimierter Scaneinstellungen auf ein Muster. Der in S9380 verwendete EDX-Detektor ist einer der empfindlichsten verfügbaren Detektoren und bietet eine Vielzahl von Signalverarbeitungsfunktionen. Dieser Detektor kann energiedispersive Röntgensignale (EDX) mit unterschiedlichen Spannungen und Winkeln messen, um Proben genau zu charakterisieren. Der EDX-Detektor ist auch in der Lage, sowohl in-situ als auch ex-situ Analyse, was bedeutet, dass die Probe untersucht werden kann, ohne dass eine Abtastung erforderlich ist. HITACHI S 9380 verfügt zudem über ein automatisiertes Computersteuerungstool, mit dem Forscher die Einstellungen des Mikroskops einfach koordinieren und anpassen können. Mit diesem Asset können Benutzer eine Vielzahl von Parametern festlegen, einschließlich des Strahlstroms, kV und der Spotgröße. Auf diese Weise können Forscher schnell und einfach Einstellungen ändern, um Bilder ihrer Probanden am besten zu erfassen. Schließlich wird S-9380 mit einer stabilen Magnetstruktur gebaut, die einen gleichbleibend reibungslosen und genauen Scanvorgang gewährleistet. So können Forscher die mit dem Mikroskop erreichbare hohe Auflösung maximieren und Untersuchungen an einer Vielzahl von Proben durchführen. Abschließend ist HITACHI S-9380 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die Elektronenstrahlanalyse entwickelt wurde. Dieses Mikroskop verfügt über ein integriertes elektrostatisches Linsenmodell, einen EDX-Detektor und automatisierte Computersteuergeräte, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Seine starke Magnetstruktur und 5 nm Auflösung ermöglichen es Forschern, detaillierte Studien zu einer Vielzahl von Materialien durchzuführen.