Gebraucht HITACHI S-9380 #9255572 zu verkaufen
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ID: 9255572
Weinlese: 2007
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM)
2007 vintage.
HITACHI S-9380 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für den Einsatz in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen entwickelt wurde. Dieses Mikroskop verfügt über eine leistungsstarke integrierte geladene Teilchenstrahlsäule und eine automatisierte Probenstufe, was es zu einer attraktiven Option für eine Vielzahl von bildgebenden Aufgaben macht. Die Strahlsäule ist der Kern des SEM und kann verwendet werden, um Auflösungen bis zu 1 nm zu erreichen. Diese Säule besteht aus drei getrennten Elementen, darunter Elektronenkanone, beschleunigte Spannungsquelle und Spaltenwellenleiter. Die Elektronenkanone erzeugt einen Elektronenstrahl, der in den Spaltenwellenleiter eintritt und dann auf die gewünschten Spannungsniveaus beschleunigt wird. Dieser Strahl wird dann mit hoher Geschwindigkeit über die Probe gescannt, um Bilder zu erzeugen. HITACHI S9380 ist mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet, die eine schnelle und einfache Probenplatzierung ermöglicht. Diese Stufe ist sowohl manuell als auch automatisch bedienbar und verbessert die Bedienbarkeit des Mikroskops in einer Vielzahl von Anwendungen. S 9380 verfügt auch über eine umfassende bildgebende Ausrüstung einschließlich eines benutzerfreundlichen Softwarepakets, erweiterte Bildanalysesoftware und drei verschiedene Sonden. Das bildgebende System bietet hervorragende Bildauflösung und Kontrast sowie die Fähigkeit, Messungen aus mehreren Orientierungen zu nehmen. S-9380 ist mit einer Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS) -Einheit ausgestattet, die für die Elementaranalyse verwendet wird. Diese Maschine ermöglicht es den Bedienern, die Zusammensetzung der Probe auf molekularer Ebene zu analysieren und kann zum Nachweis von Verbindungen auf sehr niedrigem Niveau verwendet werden. Insgesamt ist S9380 ein einfach zu bedienendes SEM, das eine hervorragende Bildqualität und Auflösung sowie einzigartige Analysefunktionen bietet. Dieses Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen, einschließlich materialwissenschaftlicher Forschung, Fehleranalyse und zerstörungsfreien Tests. Darüber hinaus machen die einfach zu bedienende automatisierte Probenphase und die benutzerfreundliche Bildgebungssoftware dies zu einer attraktiven Option für Techniker, Studenten und Forscher.
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