Gebraucht HITACHI S-9380 #9299017 zu verkaufen

Das HITACHI S-9380 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eines der fortschrittlichsten und vielseitigsten Instrumente zur Bildgebung und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien und Oberflächen. HITACHI S9380 ist ideal für Anwender in den Bereichen Halbleitermaterialien und -prozesse, Fehleranalyse, Verpackung, Optik, Elektronik und vielen anderen Anwendungen. S 9380 wird durch eine ultrahochauflösende analytische Ausrüstung mit einer Auflösung von 3,5 nm in SE und 5 nm in der BSE (Backscattered Electron) -Bildgebung sowie einem hohen Dynamikbereich und einem großen Sichtfeld angetrieben. Es ist mit einem hochpräzisen E-Strahl-Kontrollsystem ausgestattet, das hochgenaue, wiederholbare Bildgebungs- und Charakterisierungsergebnisse ermöglicht. S9380 verfügt auch über eine spezielle hochauflösende energiedispersive Röntgenmesseinheit (EDX), die eine schnelle, hochpräzise Elementaranalyse ohne spezielle Probenvorbereitung ermöglicht und Zeit und Geld spart. S-9380 ist sehr modular, um eine breite Palette von Musteranforderungen zu erfüllen, einschließlich verschiedener Arten von Probenhaltern, Kameras, Detektoren und Stufen. Die Stufen bieten zudem eine ausgezeichnete Bewegungsgenauigkeit und Zuverlässigkeit mit einer maximalen Nanopositionierungsauflösung von 0,5 nm. Damit eignet sich HITACHI S 9380 besonders für die Abbildung von extrem kleinen Proben und für die Hochvergrößerungs-Bildgebung. HITACHI S-9380 ist auch mit einer In-Column STEM (Scanning Transmission Electron Microscope) Bildgebungsmaschine ausgestattet, die eine noch höhere Auflösung und eine 3-dimensionale Abbildung von Proben ermöglicht. Sie weist eine Elektronensäule mit variablem Druck auf, um Proben abzubilden, die in einer stark kontrollierten Umgebung aufbewahrt werden müssen. HITACHI- S9380 können auch mit einem optionalen EDS-Spektrometer-Tool ausgestattet werden, das eine noch schnellere und präzisere Elementaranalyse mit ultra-niedrigen Röntgenerkennungsgrenzen ermöglicht. Dieses Spektrometer-Asset verfügt auch über Energiefilter und mehrere Detektormontageoptionen, die ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis und eine verbesserte Empfindlichkeit ermöglichen. Damit eignet sich S 9380 ideal für die Charakterisierung fortschrittlicher Materialien und Komponenten. Schließlich ist S9380 hochautomatisiert und ermöglicht eine einfache Wiederholung und Automatisierung von Scan-, Bildgebungs- und Charakterisierungsaufgaben. Die benutzerfreundliche Benutzeroberfläche und intuitive Software machen die Bedienung einfach und unkompliziert, sparen Zeit und reduzieren Fehler. Insgesamt ist S-9380 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien und Oberflächen, mit hochauflösender Bildgebung, vielseitigen Probenhaltern und -stufen, fortschrittlichem EDS-Spektrometer sowie einer benutzerfreundlichen Schnittstelle.