Gebraucht HITACHI VR-70 #9165608 zu verkaufen
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ID: 9165608
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1989
Resistivity measurement systems, 6"
1989 vintage.
HITACHI VR-70 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Visualisierung von Mikrostrukturen und Materialien entwickelt wurde. Das System verfügt über ein All-in-One-Design und eignet sich ideal für Anwendungen in hochauflösender Mikroskopie und Spektroskopie. VR-70 verfügt über eine Feldemissionselektronenquelle (FE) mit einem Elektronenstrahl mit einer Auflösung von 0,2 nm (Nanometer) und einem Strombereich von 0,2 - 1,5 nA. Der Elektronenstrahl weist einen Kriechwegkompensator auf, der den Effekt von Drift durch elektrostatische Wechselwirkungen zwischen Probe und Strahl minimiert. HITACHI VR-70 verfügt über eine Abtaststufe und eine Probenkammer, die beide in einem Umgebungsgehäuse eingeschlossen sind, wodurch die Auswirkungen von Umgebungsvariablen auf mikroskopische Messungen minimiert werden. Darüber hinaus umfasst das Mikroskop eine Vakuumspaltdichtung, die dazu beiträgt, das Ausmaß elektromagnetischer Störungen zu reduzieren, die die Bildgebung stören können. Darüber hinaus verfügt das Gerät über einen integrierten, mehrstufigen Energiefilter, der die Bildauflösung schärft und unerwünschte Sekundärelektronen oder andere Signale entfernt. Das Mikroskop ist mit hochauflösenden Monitoren, linsenbasierter Optik sowie digitaler Bildgebungs- und Automatisierungssoftware ausgestattet. Der Monitor kann Bilder bis 1920 x 1080 Pixel bei 10 Bit Farbe anzeigen. Die Optik hat einen Vergrößerungsbereich von 50x bis 100.000x, mit einer Fokustiefe von bis zu 200 nm. Der Benutzer kann Bilder über den Monitor oder direkt durch die Okulare betrachten. Die Maschine verfügt über einen Akustik-Emission-Dämpfer (AEA), der hilft, akustische Vibrationen während der Bildgebung zu reduzieren. Die Automatisierungssoftware der Systeme kann zur automatischen Erfassung und Speicherung von Bildern sowie zur Mehrpartikelanalyse verwendet werden. Das Tool enthält auch eine Bildanzeigesoftware, die eine Vergrößerung, Kontrast und Helligkeitsanpassung sowie die Anwendung von Bildverarbeitungsfunktionen ermöglicht. Insgesamt ist VR-70 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung und Spektroskopie. Das vielseitige Design ermöglicht den Einsatz für eine Vielzahl von Mikroskopieanwendungen. Die Anlage umfasst eine FE-Elektronenquelle, ein Umweltgehäuse, eine Bildanzeigesoftware und einen AE-Dämpfer, was es zu einer idealen Wahl sowohl für industrielle als auch für Forschungsanwendungen macht.
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