Gebraucht HITACHI WA 3300 #9232735 zu verkaufen

HITACHI WA 3300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse verschiedener Proben. Es verfügt über eine fortschrittliche Abbe- und Feldemissionstechnologie für optimierte Fokusstabilität, verbesserte Bildauflösung und verbesserte Betriebsgeschwindigkeit und -durchsatz. Die Primärsäule des Instruments ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) und einer Hochspannungsversorgung ausgestattet, die eine größere Fokustiefe und eine verringerte sphärische Aberration ermöglicht. Dies ermöglicht eine höhere Bildauflösung und Bildstabilität über eine Vielzahl von Vergrößerungen gleichzeitig. Das Gerät kann mit einer Vielzahl von Objektiven betrieben werden, von geringer Vergrößerung - ideal für große Proben - bis hin zu ultrahoher Vergrößerung - perfekt für detaillierte Oberflächenanalysen. Das Mass Analysis System (MAS) bietet eine bemerkenswert schnelle Bildaufnahme mit einer hochintegrierten Primär- und Sekundärsäule, die sowohl einen ultra-hochleistungsfähigen Verzögerungsleitungsdetektor als auch einen Sekundärelektronendetektor mit hoher Stabilität aufweist. Das MAS bietet auch eine hohe Empfindlichkeit für die Beobachtung eines breiten Spektrums von Materialien, wie Halbleiter, Metalle, keramische und organische Materialien. Das Elektronenstrahl-Fokussierungssystem (EBFS) ist ein leistungsstarkes und robustes Merkmal von HITACHI- WA3300, das eine komfortable Strahlkontrolle für einen optimalen Abtaststrahl durch die Einstellung der Strahlquer- und Längsposition ermöglicht. Diese Funktion eignet sich besonders für Proben mit unebenen Flächen oder komplexen KEs. WA-3300 verfügt auch über ein einzigartiges Bildgebungs- und Analysesystem, das eine Echtzeitbeobachtung und Optimierung der bildgebenden Parameter während der Bildgebung und Analyse ermöglicht. Der Echtzeitelektronbalkenoptimierungsprozess vereinfacht die Kompliziertheit der SEM-Operation, Arbeitsabläufe für die effiziente Operation und kurze Analysezeiten rationalisierend. Schließlich beherbergt WA3300 eine große Auswahl an SEM-Zubehör, wie automatisierte Probenvorbereitungseinheiten, euzentrische automatisierte Bühnenoptionen, digitale SEM-Bildprozessoren und verschiedene Datenanalyse- und -erfassungssysteme. Diese Komponenten, kombiniert mit der Benutzerfreundlichkeit und der hohen Leistung, machen WA 3300 zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Probenanalyse- und Bildgebungsanwendungen.