Gebraucht HITACHI WA-3300S #293603568 zu verkaufen

HITACHI WA-3300S ist ein Rasterelektronenmikroskop, das die Oberfläche von Minutenproben mit hoher Auflösung und Detailtiefe beobachten kann. Es ist ein vielseitiges Werkzeug zum Detektieren, Analysieren und Messen von Materialien bis in den Nanometermaßstab, zum Aufdecken der detaillierten Topographie von Proben und zur Durchführung der Rasterelektronenmikroskopie. Das Instrument ist mit einer motorisierten Probenstufe und einer großen Vakuumkammer ausgebildet. Es ist in der Lage, sowohl breitflächige Abbildungen als auch stark lokalisierte Abtastungen mit seinen Mehrfachstrahlgeometrien durchzuführen. Es verfügt zudem über eine hohe Vergrößerung von bis zu 200kX, ein Sichtfeld von bis zu 68 mm und eine Auflösung von 5 nm. WA-3300S verfügt über ein energiedispersives Röntgensystem (EDS), das in der Lage ist, die Energieanalyse der Probe durchzuführen und ihre Zusammensetzung in wenigen Sekunden zu identifizieren. Dies ermöglicht eine schnelle Beurteilung der Eigenschaften des Materials wie Kristallstruktur, chemische Zusammensetzung und so weiter. Darüber hinaus verfügt HITACHI WA-3300S über ein computergesteuertes Probenladesystem, das die Montage der Probe in der Probenphase erleichtert. Das Instrument verfügt außerdem über einen automatisierten Probenerkennungs-, Neigungs- und Fokusmechanismus zur schnellen Manipulation. Diese Funktion ermöglicht das Scannen von Proben in verschiedenen Neigungswinkeln, was für die Analyse der Probe aus allen Aspekten von unschätzbarem Wert ist. WA-3300S verfügt auch über eine externe Datenverarbeitungseinheit (EPDU), die die Bildqualität optimieren und eine höhere Auflösung von Proben unterschiedlichster Größen erreichen soll. Dieses Gerät ermöglicht die Live-SEM-Bildverarbeitung und -analyse und kann bis zu acht Bilder zum sofortigen Rückruf speichern. HITACHI WA-3300S bietet eine optimale Kombination aus hohen Vergrößerungen und Auflösungsfähigkeiten sowie die Möglichkeit, eine Reihe von analytischen Prozessen durchzuführen. Es ist ein ausgezeichnetes Werkzeug für Oberflächenanalyse, Materialforschung, Nanotechnologie und mehr.