Gebraucht JEOL JSM 5900LV #9314353 zu verkaufen

JEOL JSM 5900LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Life Science und industrieller Inspektion entwickelt wurde. Es ist ein hochauflösendes, niedriges Vakuum (LV) SEM, das in der Lage ist, eine Vielzahl von Proben Größen und Formen abzubilden, vom Nanometer bis zum Millimeter-Maßstab. JEOL JSM-5900LV ist mit einer Hochleistungs-Elektronenpistole vom Typ In-Objektiv mit einem Dual-Gun-System ausgestattet. Der Strahlstrombereich von 0,1 pA bis 15 nA ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und Elementaranalyse mit EDX ElementComp. Es ist auch mit einer Feldemissionspistole für erweiterten Vakuumbetrieb ausgestattet, die hochempfindliche Bildgebung und EDS ElementalComp bietet. JSM 5900 LV hat einen beeindruckenden Vergrößerungsbereich von 15x bis 1.000.000x, so dass die Bildgebung von der Sub-nm bis zu 60.000 Mal der ursprünglichen Größe. Es ist auch hoch genug, eine Vielzahl von bildgebenden Modi einzusetzen, einschließlich Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE), In-Linsen-Sekundärelektron (ISEL) und hochauflösende Stereobildgebung (MP). Mit seiner hochauflösenden Bildgebung und dem optionalen ImageMatch System für die Mustererkennung können Benutzer in der Probe kleinere Funktionen erkennen. Darüber hinaus verfügt JSM-5900LV über eine breite Palette von Detektoren und digitalen Abbildungsmöglichkeiten sowohl für die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX/ElementComp) als auch für die analytische Rasterübertragungselektronenmikroskopie (ASTM). EDX wird zur qualitativen und quantitativen chemischen Analyse verwendet, während ASTM zur Abbildung von Standort- und Zusammensetzungsverteilungen in der Probe verwendet werden kann. JSM 5900LV ist auch in der Lage, simultane SEM-Bildgebung und EDX ElementComp-Analyse, so dass die Probencharakterisierung einfacher und schneller. JEOL JSM 5900 LV eignet sich mit seinen vielseitigen bildgebenden Fähigkeiten für eine Vielzahl von Materialwissenschaften, Life Science und industriellen Anwendungen. Dieses SEM ist in der Lage, verschiedene Proben wie Leiterplatten, Metalle, Keramiken, Verbundwerkstoffe, Kohlenstoff-Nanoröhren und kleine biologische Proben abzubilden. Seine hochauflösende Bildgebung ermöglicht es Benutzern, Proben im Detail zu untersuchen und präzise Messungen vorzunehmen. JEOL JSM 5900LV bietet Anwendern ein fortschrittliches und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop für die Abbildung einer Vielzahl von Materialproben.