Gebraucht JEOL JSM 5910LV #9314370 zu verkaufen

JEOL JSM 5910LV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Es hat die höchste Auflösung und höchste Vergrößerungsfähigkeit eines einzelnen SEM in seiner Klasse. JSM 5910LV verwendet einen Sekundärelektronendetektor in der Linse, der in die elektronenoptische Säule der Einheit integriert ist. Diese Funktion ermöglicht schnelle und genaue Spannungseinstellungen, um optimale Abbildungsbedingungen zu gewährleisten. Das Mikroskop ist außerdem mit einem Sekundärelektronendetektor und einem Channeltron-Detektor ausgestattet, der eine hochauflösende Abbildung nichtleitender Proben ermöglicht. Das Mikroskop verfügt über ein modernes Kühlsystem, das das Vakuum beibehält und die notwendige Kühlung zur Verbesserung der Bildqualität und -stabilität bietet. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein modernes Vakuumpumpensystem mit einer Close-Loop-Funktion, die das Vakuumniveau für einen zuverlässigen Betrieb überwacht und aufrechterhält. JEOL JSM 5910LV hat einen maximalen Ablenkwinkel von 168 mm der Elektronenkanone und bietet eine höhere Genauigkeit und Präzision in das SEM-Bildgebungssystem. Darüber hinaus kann die Mehrzweckstufe des Geräts für die zweidimensionale (X-Y) und dreidimensionale (Z) Navigation verwendet werden, was eine präzise Ausrichtung und Bewegung der Proben ermöglicht. Es ist möglich, Proben horizontal bis zu 150 mm und vertikal bis zu 100 mm zu bewegen, um Bilder des gewünschten Bereichs zu erhalten. Das Mikroskop enthält auch einen EDX-Detektor mit hoher Helligkeit (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer), der eine schnellere Analyse von Probenelementen bei höheren Vergrößerungen ermöglicht. Darüber hinaus kann eine Feinfokusfunktion die Bildauflösung und -qualität schrittweise anpassen. Schließlich enthält JSM 5910LV ein integriertes Softwarepaket namens JEMWARE, mit dem Benutzer ihre Mikroskopoperationen von einer PC-Schnittstelle aus steuern können. Mit diesem Paket können Einstellungen wie Vergrößerung, Fokus und Kontrast angepasst sowie gescannte Bilder analysiert und gemessen werden. Zusammenfassend ist JEOL JSM 5910LV ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer breiten Palette von Funktionen und fortschrittlichen Designkomponenten, die es für viele verschiedene SEM-Anwendungen geeignet machen. Es enthält Inlinsen-Sekundärelektronendetektor, EDX-Detektor, Mehrzweckstufe für die Navigation und ein integriertes Softwarepaket, unter anderem. Das Mikroskop bietet hochauflösende Bildgebung mit hoher Stabilität, was es zu einer ausgezeichneten Wahl für diejenigen macht, die eine genaue und zuverlässige SEM-Bildgebung benötigen.