Gebraucht JEOL JSM 6700F #9373197 zu verkaufen

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ID: 9373197
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6700F ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Anwendungen in der Materialwissenschaft und Bioelektronenmikroskopie. Das SEM ist aufgrund seiner hohen Auflösung bei seinen bildgebenden Energien von 1,0 bis 30kV in der Lage, Mikrometer-Eigenschaften mit hoher Präzision und Detailtreue abzubilden. Die Quellspannung ist einstellbar und die maximale Beschleunigungsspannung kann bis zu 20kV betragen. JEOL JSM 6700 F verwendet Sekundärelektron (SE) und Back Scattering Electron (BSE) Detektoren für die Bildgebung, die eine breite Palette von Abbildungsmöglichkeiten mit ausgezeichneten Bildern und verbessertem Kontrast ermöglichen. Es ist auch mit einem In-Linsen-SE-Detektor ausgestattet, der eine überlegene Abbildung des oberen Abschnitts von Proben ermöglicht, wie sie in Materialien und organischer Biologie vorkommen. Der Strahlstrom ist einstellbar und das Mikroskop ist auch in der Lage, verschiedene Arten von Proben abzubilden, wie anorganische Proben, Nanomaterialien, biologische Proben und ICs. Darüber hinaus begleiten JSM- 6700F viele Besonderheiten wie ein In-Column-Energiefilter zur Abbildung energiesensitiver Proben, ein Autofokus-System zur schnellen Einstellung des bildgebenden Fokus, ein verschüttungsfreies Design zur Umweltsicherheit und zur Abbildung gefährlicher Materialien sowie eine EFI-Software zur automatisierten Bildgebung und Analyse. Die mitgelieferte glasige Kohlenstoff-Probenstufe kann für eine Vielzahl von bildgebenden Bedingungen verwendet werden und sowohl nasse Proben als auch auf 600 ° C erhitzte Proben aufnehmen. Insgesamt ist JSM 6700 F ein außergewöhnlich präzises und vielseitiges SEM, das sich für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft und Bioelektronenmikroskopie eignet.
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