Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9380532 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai F30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hervorragende bildgebende Fähigkeiten für die Materialforschung bietet. FEI F30 ist eine vielseitige Plattform für eine Vielzahl von SEM-Anwendungen. Es ist eine einfach zu bedienende, leistungsstarke Ausrüstung für Anwendungen einschließlich Elementaranalyse und Oberflächenmorphologie Charakterisierung. PHILIPS TECNAI F 30 verfügt über einen hochauflösenden Bildgebungsmodus, der Auflösungen von mehr als 0,2 nm auf Proben aller Größen bereitstellt. Ein einzigartiges Säulendesign ermöglicht einen chromatischen aberrationsfreien Betrieb bei allen Vergrößerungen für überlegene Abbildungsergebnisse. Mit ultra-niedrigen kV-Optionen von einigen hundert Volt bis zu 30 kV kann PHILIPS/FEI TECNAI F 30 Bilder einer breiten Palette von Proben erzeugen. Tecnai F30 verfügt auch über eine Reihe von analytischen Fähigkeiten, die einen detaillierten Einblick in die Zusammensetzung und Struktur von Proben bieten. Sein energiedispersives Röntgenspektrometriesystem (EDS) bietet Elementaranalysen mit einer außergewöhnlichen Energieauflösung. Eine hochempfindliche Energiefilter-Detektionseinheit ist im Lieferumfang enthalten, die einen Nachweiswirkungsgrad von mehr als 90% bei 5 keV bietet. Multi-Adjacent Layer Analysis (MALA) ermöglicht die Charakterisierung von bis zu drei Ebenen einer Probe in einem einzigen Scan. Darüber hinaus verwendet PHILIPS/FEI F30 Feldemissionskanonen für schnelle, zuverlässige Ergebnisse und Faraday-Elektronendetektoren für genaue erzeugte Strommessungen. Es verfügt über eine Split-Electron Gun-Anordnung für die Bildgebung, EDS und Auger Drain Current Imaging (ADCI) in einem einzigen Scan. Schließlich wird PHILIPS Tecnai F30 mit einer einfach zu bedienenden Steuerungsmaschine mit einer Vollfarben-Touchpanel-Schnittstelle, variabler Bilddrehung und automatischem Probenwechsler gebaut. Die vielseitige, intuitive Steuerungssoftware ermöglicht die Bedienung, Einrichtung und Datenanalyse. Dies ermöglicht eine vereinfachte, einfache Bedienung für Anwender jeglicher Qualifikationsstufe. Abschließend ist F30 ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit hervorragenden bildgebenden Fähigkeiten und einer breiten Palette von analytischen Fähigkeiten. Sein vielseitiges Design ermöglicht einfache Bedienung und Setup sowie erweiterte Analysefunktionen. Als solche ist FEI Tecnai F30 eine ausgezeichnete Wahl für die Charakterisierung und Forschung von Materialien.