Gebraucht ZEISS Supra 55-VP #9137994 zu verkaufen

ZEISS Supra 55-VP ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit innovativer Technologie, die unglaublich detaillierte Bilder in einer Vielzahl von wissenschaftlichen und technischen Forschungsanwendungen liefert. Dieses Rasterelektronenmikroskop nutzt eine zukunftsweisende variable Druckumgebung, um eine optimale Leistung über eine breite Palette von Materialien und Probengrößen zu bieten. ZEISS SUPRA 55VP verfügt über einen erweiterten Arbeitsabstand von 67,5 mm zur Aufnahme von Proben unterschiedlicher Größe, während seine hochpräzise elektrostatische X/Y/Z-Positionierung es dem Benutzer ermöglicht, die Position der Probe genau einzustellen und ihre Details in beispiellosen Vergrößerungen von bis zu 25.000 x anzuzeigen. Dieser vergrößerte Vergrößerungsbereich macht dieses Rasterelektronenmikroskop ideal für die nanoskalige Bildgebung, Identifikation und Analyse. Die variable Drucktechnologie von Supra 55-VP ermöglicht es diesem Rasterelektronenmikroskop, sauber über eine breite Palette von Proben abzubilden, wodurch Artefakte eliminiert werden, die mit Proben verbunden sind, die für hohe Drücke empfindlich sind. Die Eigenschaften dieses Rasterelektronenmikroskops ermöglichen es seinen Anwendern, kompetitiv detaillierte Bilder zu erstellen und die Proben vor Beschädigungen zu schützen. Mit seiner einzigartigen Eigenschaft des variablen Drucks bietet SUPRA 55VP im Vergleich zu herkömmlichen SEMs eine weitaus größere Flexibilität für die Abbildung fragiler oder empfindlicher Proben. Dieses Rasterelektronenmikroskop weist auch eine kantige Säulenkonstruktion auf, die Proben auf Detektorabstand für verbesserte Bilddetails und Auflösung minimiert. Darüber hinaus bietet dieses Rasterelektronenmikroskop mit seiner integrierten Hochleistungs-FEG-Quelle maximale Helligkeit für Bilder und Ergebnisse höchster Qualität. ZEISS Supra 55-VP bietet überlegenen Komfort und Sicherheit, da der Anwender aufgrund seines ergonomischen Designs problemlos damit arbeiten kann. Dieses Rasterelektronenmikroskop ermöglicht es Benutzern auch, den Fensterwinkel der Kammertür mit seinem Kammerpositionierungssystem einzustellen, was einen komfortablen Blick auf die Proben in jedem Winkel ermöglicht. ZEISS SUPRA 55VP bietet mit seinem höhenverstellbaren Stand- und Anti-Vibrationssystem eine stabile und sichere Arbeitsumgebung. Supra 55-VP bietet eine einzigartige Kombination von Funktionen, um Forschern und Ingenieuren ein Mikroskop zur Verfügung zu stellen, das bahnbrechende Ergebnisse in den vielfältigen Anwendungen der Materialforschung ermöglicht. Anwender können fortgeschrittene, nanoskalige Bildgebung, Analyse und Identifizierung untersuchen, da die Funktionen dieses leistungsstarken und zuverlässigen Rasterelektronenmikroskops es ihnen ermöglichen, zuverlässig detaillierte Bilder in einer sicheren und komfortablen Umgebung zu erzielen.