Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9211547 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 ist ein Masken- und Wafer-Inspektionsgerät, das verbesserte Bildgebungs- und Scanleistung mit fortschrittlichen Fehlererkennungs- und Klassifizierungsfunktionen kombiniert, um eine schnelle und genaue Charakterisierung aller Masken- und Stempeldefekte zu ermöglichen. Das System wurde entwickelt, um Anomalien in einer Einzelzoom- oder Mehrstufeninspektion zu erkennen. Es bietet auch fortschrittliche Algorithmen, um zuvor unsichtbare Fehler oder Prozessfehler zu erkennen. Das Gerät verfügt über einen Wafer/Masken-Viewer mit integriertem Laserscanner zur hochauflösenden Vergrößerung und Bildgebung. AMAT SemVision G2 hat einen kleinen, leichten Formfaktor und eine bequeme Verwendung, so dass es die ideale Wahl sowohl für Benchtop- als auch für Halbleiterfab-Umgebungen ist. Es verfügt über Hochleistungs-LED-Beleuchtung für verbesserten Kontrast und eine anspruchsvolle optische Maschine für schnelle und genaue Inspektion. Ein integriertes Planheitsüberprüfungswerkzeug für Wafer/Masken sorgt dafür, dass die Masken- und Matrizenoberflächen eben und schlichtnivelliert bleiben. Die Anlage ist so konzipiert, dass sie einfach eingerichtet und kalibriert werden kann, mit einer Vielzahl von Optionen für verschiedene Inspektionsszenarien. Dies ermöglicht es Benutzern, schnell große Mengen an gewürfelten Geräten in Sekunden zu überprüfen. Die Inspektionsgeschwindigkeit des Modells kann in wenigen Minuten bis zu 1 Million Gerätebilder aufnehmen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G2 bietet auch Unterstützung für Auto Defect Review (ADR) zur Verbesserung der Fehlercharakterisierung. SemVision G2-Geräte unterstützen auch die Fehlerbilderstellung und ermöglichen es Benutzern, mehrere Bilder eines Fehlers sowohl in der Waferoberfläche als auch in der Querschnittszuordnung anzuzeigen. Dies hilft bei der genauen Klassifizierung der Fehler nach Form, Größe und Lage der Geräte. Das System unterstützt auch verschiedene Arten von Fehlererkennungsalgorithmen wie regelbasierte, Musteranpassung und Bildanalyse, um Fehler besser zu erkennen und zu charakterisieren. Darüber hinaus bietet das Gerät auch Echtzeit-Co-Site-Imaging-Funktionen für eine schnelle und präzise Fehlerinspektion. AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 Maschine bietet schnelle Wendezeit, ausgezeichnete Wiederholbarkeit und präzise Ausstattungsleistung. Mit einem integrierten Editor können Benutzer die Inspektionsbilder schnell überprüfen, Masken- und Wafer-Layoutdiagramme erstellen und den Bildkontrast und die Helligkeit anpassen. Eine intuitive Benutzeroberfläche liefert zudem klare Informationen zur Fehlerabdeckung und Fehlerübersichtlichkeit. Mit seinen erweiterten Funktionen und einer Vielzahl von Funktionen ist AMAT SemVision G2 die perfekte Lösung für die Anforderungen der Masken- und Waferinspektion.