Gebraucht FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR Laminar Flow Series II #69187 zu verkaufen

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FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR Laminar Flow Series II
Verkauft
ID: 69187
Chip adhesion test tool. Parts system, missing CPU.
FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR Laminar Flow Series II ist eine robuste, innovative und hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für fortgeschrittene Halbleiteranwendungen wie mikroelektronische Tests, 3D-Integration und Messtechnik, Wafer-Herstellung und Waferreinigung entwickelt wurde. Es bietet Komplettlösungen mit den neuesten Funktionen und Funktionalitäten zu wettbewerbsfähigen Preisen. Die Serie II umfasst ein modulares, skalierbares System, das auf die Bedürfnisse jeder Anwendung zugeschnitten ist, mit Optionen von grundlegenden manuellen Operationen bis hin zu vollautomatischen, fortschrittlichen Tests mit Echtzeitüberwachung und vollständiger Fehlerdiagnose. Der modulare Charakter der Einheit ermöglicht die vollständige Integration mit Produktionslinie, Netzwerk und Versorgungsplattformen und bietet eine vollständige Sichtbarkeit und Kontrolle des Prozesses von Anfang bis Ende. Die Serie II verwendet ein laminares Strömungsdesign, bei dem Luft über eine Reihe von Vakuumventilatoren und kleinen Kanälen durch die Waferoberfläche gezogen wird. Dies ermöglicht streng kontrollierte Umgebungsbedingungen, verringert Kontaminationsrisiken und maximiert die Prüfgenauigkeit. Um die beste Genauigkeit zu gewährleisten, ist die Maschine mit der Fähigkeit ausgelegt, von beiden Teilen des Wafers gleichzeitig zu probieren, was eine extrem genaue Positionsverfolgung und einen Vergleich der Probenergebnisse ermöglicht. Die Serie II bietet auch fortschrittliche Softwarelösungen für Datenanalyse und maschinelles Lernen, die eine Optimierung und Entdeckung bisher unbekannter Parameter ermöglichen. Diese Funktionen sind auch in die Workflow- und Kommunikationssysteme integriert und ermöglichen den Fernzugriff und die gemeinsame Nutzung von Datensätzen mit anderen Prozessen. Um höchste Genauigkeit und Präzision zu ermöglichen, verwendet die Serie II auch fortschrittliche optische Analyselösungen wie konfokale Mikroskopie, Interferometrie, optische Charakterisierung und Rastermikroskopie. Diese Lösungen ermöglichen es Forschern, Strukturen bis in den Nanometermaßstab mit extrem hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu analysieren. Zusammenfassend ist das FSM Laminar Flow Series II Wafer Testing and Metrology Tool ein innovatives und leistungsstarkes Tool für die Prüfung von Anwendungen in einer Reihe von Skalen, von der Nanometerebene bis zur Produktion im Vollmaßstab. Es bietet vollständige Integration in Produktionslinien, Netzwerke und Versorgungssysteme, ein laminares Flussdesign für die Kontaminationskontrolle und fortschrittliche Softwarelösungen für Datenanalyse und maschinelles Lernen. Es bietet auch optische Analyselösungen, um Präzision und Genauigkeit in Forschung, Test und Produktion zu erleichtern.
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