Gebraucht KLA / TENCOR 6220 Surfscan #193077 zu verkaufen

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KLA / TENCOR 6220 Surfscan
Verkauft
ID: 193077
SURFSCAN inspection system Currently stored in air-conditioned area.
KLA/TENCOR 6220 Surfscan ist eine Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die fortschrittliche Halbleiterforschung und die Herstellung integrierter Schaltungen entwickelt wurde. Dieses System ist Teil der 62XX Familie von Wafer-Testsystemen, die hohe Geschwindigkeit, weite Fläche und tiefgreifende Analysefähigkeit bieten. KLA 6220 Surfscan-Einheit verfügt über hochempfindliche Laser-Streumessung, bis zu 1500 Waferbilder/s und 10nm Auflösung. Diese Maschine ist so konfiguriert, dass Standard Photo-Reflectance (PR) und 3D Metrologie (3D) Laser verwendet werden, um genaue Tests von Wafer-Funktionen durchzuführen. Insbesondere ist das Surfscan-Tool TENCOR 6220 in der Lage, Wafertopographie und Oberflächenrauhigkeit zu analysieren, indem die Reflexion einer gesteuerten Lichtquelle in verschiedenen Winkeln gemessen wird. Dies ermöglicht die Messung verschiedener Merkmale wie ein- oder mehrschichtige dielektrische Strukturen sowie Gräben, Kontakte, Vias und andere Strukturen. Der Vermögenswert verwendet einen fortgeschrittenen Laser interferometer und ein einzigartiges 3D-Doppelsensor-Design, das Hochleistungsnanometer-Niveaumaße für die genaue Anordnung und Parametereinschätzung ermöglicht. Darüber hinaus bietet das Modell fortschrittliche webbasierte Software für Wafer-Profilierung, Fehleranalyse, Prozessüberwachung und Konturzuordnung. Diese leistungsstarke Software ermöglicht es Anwendern, die Wafer-Topographie zu analysieren und zu visualisieren, Fehler zu erkennen oder Präzisionsmesstechnik mit Leichtigkeit durchzuführen. Darüber hinaus unterstützt die Software die Erstellung von Berichten durch die Bereitstellung automatisierter Datenerfassungs- und Analysefunktionen. Darüber hinaus ermöglicht 6220 Surfscan-Geräte das Clustern ähnlicher Merkmale zur verbesserten Erkennung von Prozessaberrationen. KLA/TENCOR 6220 Surfscan ist ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-System, das für Anwender entwickelt wurde. Es bietet eine hohe Genauigkeit und Hochgeschwindigkeits-Laseranalyse von Wafer-Funktionen und ermöglicht eine genaue Fehlererkennung und Prozessüberwachung. Die webbasierte Software des Geräts unterstützt die Erstellung von Berichten und bietet automatisierte Datenerfassungs- und Analysefunktionen. KLA 6220 Surfscan ist ein Paradebeispiel für die Verpflichtung der UCK, modernste Technologie und fortschrittliche Überwachungslösungen anzubieten, um den anspruchsvollen Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht zu werden.
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