Gebraucht KLA / TENCOR 7700 Surfscan #184437 zu verkaufen

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KLA / TENCOR 7700 Surfscan
Verkauft
ID: 184437
SURFSCAN, patterned wafer inspection systems, 8".
KLA/TENCOR 7700 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für Anwendungen in der Halbleiter-Produktionslinie entwickelt wurde. Es ist ein vollautomatisches Wafer Defekt Inspektions- und Analysesystem, in der Lage, hohe Ausbeute und Durchsatz auf 200mm und 300mm Wafer. KLA 7700 Surfscan verwendet einen patentierten, erweiterten Erkennungsalgorithmus, um Fehler auf der Oberfläche des Wafers zu erkennen. Dieser Algorithmus ermöglicht es dem Gerät, Fehler zu erkennen, auch wenn sie kleiner als die minimale KE-Größe sind. Auch eine automatisierte Fokussiermaschine ist integriert, die es dem Werkzeug ermöglicht, Messungen mit hoher Genauigkeit durchzuführen. Das Asset verfügt zudem über eine verbesserte Multi-Channel-Fähigkeit, mit der mehrere Bilder derselben Oberfläche gleichzeitig erfasst werden können. TENCOR 7700 Surfscan-Modell verwendet eine Vielzahl von Sensoren, Lasern und Optik, um die Daten für die Inspektion zu erfassen. Seine fortschrittlichen Sensoren sind in der Lage, hochauflösende Bilder der Waferoberfläche mit minimalem Rauschen zu erfassen. Seine Laser werden verwendet, um die Höhe von Defekten und anderen Merkmalen mit einer hohen Genauigkeit zu messen. Die Optik im Gerät ist einstellbar und kann zur Änderung des Blickwinkels und des Betrachtungsbereichs verwendet werden. 7700 Surfscan verfügt über integrierte Funktionen zur Datenanalyse, Qualitätssicherung und Archivierung. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von verschiedenen Datentypen wie Messtechnik, Bildgebung, Topographie und Ablehnungsdaten zu erfassen. Diese Daten werden dann analysiert, archiviert und gemeldet, um dem Kunden die notwendige Analyse zur Minimierung von Fertigungsfehlern zu liefern. Das System enthält auch Analysen, die Berichte über Fehler, Fehlermodi und Ursachen generieren können. Insgesamt ist KLA/TENCOR 7700 Surfscan eine leistungsstarke und zuverlässige Wafertest- und Messtechnikeinheit, die entwickelt wurde, um die Effizienz zu optimieren und den Ertrag auf der Halbleiterfertigungslinie zu maximieren. Es eignet sich gut zur Erkennung und Qualitätssicherung von Waferdefekten. Durch die Verwendung fortschrittlicher Erkennungsalgorithmen und fortschrittlicher Sensoren, Laser und Optik ist die Maschine KLA 7700 Surfscan in der Lage, qualitativ hochwertige Ergebnisse zu liefern, ohne auf Produktionszeit oder Ertrag zu verzichten.
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