Gebraucht KLA / TENCOR AIT 1 #151017 zu verkaufen

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KLA / TENCOR AIT 1
Verkauft
ID: 151017
Particle counter for LED (Sapphire) application.
KLA/TENCOR AIT 1 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die es Halbleiterunternehmen ermöglicht, die Produktqualität durch Prüfung, Inspektion und Charakterisierung ihrer Prozessschritte über eine Reihe von kritischen elektrischen und optischen Parametern zu gewährleisten. Dieses System wurde entwickelt, um Serienumgebungen zu erfüllen und Funktionsgrößen von 2 bis 32 Mikrometer auf heutigen fortschrittlichsten Wafersubstraten zu unterstützen. Die Einheit integriert Wafer-Tests, Messtechnik und Fehlerüberprüfungsfunktionen in einer einzigen Plattform, die eine schnelle, wiederholbare und zuverlässige Leistung ermöglicht. Es zeigt Hochleistungsanwendung unabhängiger Nichtkontakt 3D-Metrologie und Defektanalyse, schnelle Scannende Laserbalkenanalyse, und Sterben Sie Oblatenprobefähigkeiten zur Datenbank. Die hochauflösende Messtechnik der KLA AIT 1 hilft bei der genauen Erkennung von Defekten, einschließlich Hügeln, Schlüssellöchern, Flocken und Poren, sowie bei der Messung kritischer dimensionsbezogener Parameter auf Werkzeugoberflächen. Die integrierte Scanning Laser Beam Analysis führt Echtzeit-3D-Formmessungen durch und hilft, anormale Formfaktoren in der Matrize zu identifizieren, die sich drastisch auf die Geräteleistung auswirken können. Es hilft auch, parametrische Defekte wie vorher hergestellte Gate Short, BTI und andere spannungsbedingte Defekte zu identifizieren, die vor der Wafersortierung und Montage erkannt werden können. Die hochvorteilhafte Die-to-Database-Testlösung führt exakt Tests an verschiedenen Produkten wie Flash-Speicher, Controller-Speicher und HF-ICs durch. Es bietet eine Fehlerdatenbanklösung, die Geräteleistungsdetails als Post-Process-Job erfasst. Diese integrierte Lösung bietet eine Datenbank, um bestimmte testbezogene Parameter zu speichern, Fehlertrends zu analysieren und Daten einfach in die Software-Datenbank einzufügen. TENCOR AIT 1 Maschine bietet eine Multifunktions-Testplattform, die hochauflösende Messtechnik, Fehleranalyse und Wafer-Testfähigkeit kombiniert. Das Wafer-Test- und Messtechnik-Tool hilft, die Produktausbeute zu verbessern und die Prozessvariation durch die Optimierung der Qualität von Halbleiterbauelementen zu reduzieren. Es ist ein idealer Vorteil für diejenigen, die eine automatisierte, wiederholbare und zuverlässige Lösung für Qualitätskontrolle und niedrige Ausfallraten suchen.
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