Gebraucht KLA / TENCOR AIT 8010 #80434 zu verkaufen

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ID: 80434
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1998
SURFSCAN Defect inspection system, 8" Crated and stored in a warehouse 1998 vintage.
KLA/TENCOR AIT 8010 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnikgerät, das für Entwicklungen in der Halbleiterindustrie eingesetzt wird. Es kombiniert fortschrittliche messtechnische Fähigkeiten mit automatisierten Wafertests, was es zu einem idealen Werkzeug für die Überwachung mehrerer Bearbeitungsstufen und die Verbesserung der Produktausbeute macht. KLA AIT 8010 basiert auf der k-Space Metrology (KSM) Plattform, die hochauflösende, berührungslose Laserinterferometrie verwendet, um 3D Warp/CDH (Width, Height, andRadial) Topographie zu messen. Die KSM-Technologie gibt dem System einen hochgenauen und wiederholbaren Messbereich mit einer maximalen rückverfolgbaren Präzision von 0,5 nm. Dies ermöglicht die genaue Messung von Waferoberflächeninformationen, die dann analysiert werden, um unschätzbare Erkenntnisse über mikrostrukturelle Veränderungen während verschiedener Prozessschritte zu liefern. Es bietet auch hervorragende Automatisierungsfunktionen, so dass unzählige Wafer schnell und einfach getestet werden können. Das Gerät wird mit einer vollautomatischen Geschwindigkeitspositioniermaschine geliefert, um eine schnelle und genaue Bedienung sowie ein vollautomatisches Probenmanipulationswerkzeug zu gewährleisten, um eine präzise Probenplatzierung sicherzustellen. Die erweiterte Bildgebung wird durch ein einstellbares optisches Lichtfeld ermöglicht, das eine hohe Geschwindigkeit, hochauflösende Bildgebung und quantitative Fehleranalyse bietet. Darüber hinaus verfügt TENCOR AIT 8010 über ein robustes Mehrbenutzerdatenverwaltungsmodell, das mit einem sicheren webbasierten Server synchronisiert und einen einfachen Zugriff, die gemeinsame Nutzung und die Speicherung von Daten ermöglicht. Dies ermöglicht eine nahtlose Zusammenarbeit mit gleichzeitigem Zugriff auf Daten von Arbeitsplätzen auf der ganzen Welt. Insgesamt ist AIT 8010 eine All-in-One-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die fortschrittliche Technologien mit automatisierten Prozessen kombiniert, um die Waferleistung und -qualität zu maximieren. Es ist eine leistungsstarke Lösung, die den anspruchsvollen Anforderungen der heutigen Halbleitertechnologie gerecht wird.
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