Gebraucht KLA / TENCOR M-Gauge 300 #128691 zu verkaufen

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ID: 128691
Thickness measurement system, 6"-8" Non-Contact Wafer monitor for Sheet Resistance Digital data converter, model 20 03030 Does not include printer Power requirements: 100V, 1A, 1ø, 50Hz Measurement Range: 1m ohm/square to 1,999 m ohm/square Ω/mΩ Switch ( on rear of measurement head ) Power Switch ( rear panel ) Measurement head Wafer carriage Display Disk access door Main / Auto button Start / Standby button 1996 vintage.
KLA/TENCOR M-Gauge 300 ist ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das für die Hightech-Fertigung verwendet wird. Diese Einheit wird häufig verwendet, um die Dicke, Ebenheit, Rauheit, Gleichmäßigkeit und andere Eigenschaften von Wafern zu messen und zu überprüfen, die für die Herstellung von Halbleiterbauelementen und anderen optoelektronischen Produkten verwendet werden. KLA M-Gauge 300 verwendet ein dreidimensionales Profil zur präzisen Messtechnik der 2D- und 3D-Oberflächenmerkmale von Wafern. TENCOR M-Gauge 300 verwendet eine 5-Achsen-Scanplattform, die aus zwei unabhängigen Scanachsen besteht: der X- und der Y-Achse, die die Verlagerungen des Scanners über die Oberfläche der Probe steuern, und der Z-Achse, die die Höhe des Scanners steuert. Diese Scanplattform ermöglicht präzise individuelle Messungen jedes Merkmals auf der Waferoberfläche sowie vollständig integrierte Topographie- und Rauheitsmessungen. Darüber hinaus bietet M-Gauge 300 eine automatisierte Kalibriermaschine für jede Scanachse, mit der Benutzer die Waferoberfläche schnell und genau auf eine bekannte Referenzoberfläche einstellen und die höchstmögliche Genauigkeit innerhalb des messtechnischen Datensatzes erreichen können. KLA/TENCOR M-Gauge 300 bietet ein umfassendes Werkzeugset für Wafer Test und Metrologie. Dazu gehören Funktionen wie fokussiertes Ionenstrahlfräsen, Lasermaterialentfernung, Interferometrie und Videobildgebung. Mit diesen Tools können Anwender Fehler auf der Waferoberfläche schnell und präzise auf eine Auflösung von 3 Nanometern erkennen. KLA M-Gauge 300 bietet auch ein Statistikmodul, das Daten zur einfachen Analyse in einem einzigen Bericht sammelt. Dieses Modul bietet auch Pass/Fail-Inspektionen und kann verwendet werden, um statistische Zertifizierungen der Eigenschaften des Wafers zu generieren. TENCOR M-Gauge 300 ist ein vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug für die Wafer-Messtechnik, das präzise und präzise Ergebnisse für eine Vielzahl von Wafer-Testanwendungen liefert. Es bietet flexible und anpassbare Optionen, die auf die Anforderungen jeder Produktionsumgebung zugeschnitten sind. Dank seiner intuitiven Benutzeroberfläche und der automatisierten Kalibrierungsoptionen ist die Bedienung und Bedienung einfach und einfach. Durch die Nutzung dieses modernen Wafer-Prüf- und Messtechnik-Tools können Anwender sicher sein, dass ihre Produktionsergebnisse den höchsten Qualitätsstandards entsprechen.
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