Gebraucht KLA / TENCOR P15 #9407612 zu verkaufen

KLA/TENCOR P15 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein anspruchsvolles Halbleiter-Qualitätssicherungssystem, das entwickelt wurde, um die Eigenschaften und Leistungsfähigkeit von Halbleiterscheiben genau zu testen und zu messen. Es ist in der Lage, Silizium zu inspizieren, während es noch in Substratform ist, sowie nachdem es in einzelne integrierte Schaltungen gewürfelt wurde. Das Gerät verfügt über ein Inspektionsmikroskop, das Bilderkennungstechnologie und fortschrittliche Algorithmen zur Analyse von Wafern verwendet. Der Benutzer erhält einen detaillierten Bericht über Fehler und deren Eigenschaften, die während der Bilder hervorgehoben wurden. Die eingebaute Messtechnik-Maschine ist in der Lage, Messungen an einzelnen Werkzeugen mit einer Datenmeldegenauigkeit von 1 Nanometer durchzuführen. KLA P-15 verwendet einen Rasterelektronenstrahl, der konsistent und mit einer Auflösung von bis zu 2 Mikron wiederholbar ist. Dies ermöglicht eine hochpräzise Verdünnung sowie eine effiziente und genaue Analyse von Defekten wie Partikelverunreinigungen sowie Flecken, Staub und Leitfähigkeit. Das Tool bietet mehrere einzigartige Funktionen, die es im Vergleich zu seinen Gegenstücken hochgenau und effizient machen. Seine einzigartige Querträgertechnologie ermöglicht eine gleichzeitige Ansicht sowohl der Oberseite als auch der Unterseite des Wafers und ist damit bis zu 30 Mal schneller als herkömmliche Einzelstrahl-Scanmikroskope. TENCOR P 15 verfügt auch über ein fortgeschrittenes Rückstreuelektronen (BSE) -Bildgebungsmodell, das die Genauigkeit aller Fehlermessungen deutlich erhöht. Das automatische Defekt-Grading-Asset von TENCOR P15 klassifiziert alle erkannten Defekte je nach Schweregrad in vier Ebenen - niedrig, mittel, hoch und kritisch. Auf diese Weise können vordefinierte Aktionen des Benutzers automatisch ausgelöst werden, z. B. eine Warnung, eine Stopp-oder Fortsetzung der Inspektion oder erweiterte Metrologiefunktionen. P-15 wird standardmäßig mit einer umfassenden Software für umfassenden Wafertest und Messtechnik geliefert. Eine Vielzahl verschiedener Messungen kann analysiert werden, einschließlich Waferdicke, Strukturtiefe und Risstiefe sowie Profilbestimmung, Laminierungsparameter und komplexe Musteranalyse. Abschließend ist TENCOR P-15 Wafer Testing and Metrology Model ein leistungsfähiges Werkzeug, mit dem die Eigenschaften und Leistungen von Halbleiterscheiben effizient und genau getestet und gemessen werden können. Durch seine fortschrittliche Bildgebungstechnologie, eingebaute Messtechnik und umfassende Software ist KLA P15 in der Lage, zuverlässige Ergebnisse mit beispielloser Präzision zu liefern.