Gebraucht KLA / TENCOR P1 #171037 zu verkaufen

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ID: 171037
Surface Profiler Model No: 099554 Includes CRT, 5.0 micron stylus tip and optical lamp.
KLA/TENCOR P1 ist eine automatisierte Messtechnik und Wafer-Prüfanlage für den Halbleiterherstellungsprozess. Es ermöglicht die schnelle Auswertung und Analyse der strukturellen Merkmale von Photomasken und Wafern und bietet Arbeitnehmern in der Industrie mehr Genauigkeit und Präzision als manuell erreicht werden könnte. Die eingebauten Komponenten des Systems nutzen messtechnische Techniken wie 2D- und 3D-optische Inspektion und Streuung sowie Wafer-Tests und elektrische Ertragsanalysen. Die Kombination dieser beiden Technologien ermöglicht es dem Gerät, die physikalischen und elektrischen Eigenschaften von Wafern zu überprüfen und zu analysieren. Die Maschine ist in der Lage, Muster bis zu einer Auflösung von 10nm zu analysieren und kann sowohl bei der Front- als auch bei der Rückseiteninspektion von Wafern verwendet werden, was eine präzise visuelle Inspektion beider Schichten ermöglicht. Dies ermöglicht die Erkennung einer Vielzahl von Defekten im Wafer, wie Delaminationen, Verunreinigungen, Späne und Kratzer. KLA P-1 beinhaltet auch eine fortschrittliche Signalverarbeitung, um die Genauigkeit der Testergebnisse zu verbessern. Das Tool sammelt und speichert Daten von Dutzenden von Punkten auf dem Wafer, so dass Benutzer Eigenschaften wie elektrischen Widerstand und Signalintegrität mit größerer Genauigkeit als je zuvor verfolgen können. Das Asset verfügt über eine benutzerfreundliche Touchscreen-Oberfläche, mit der Benutzer schnell und präzise Anpassungen der Modelleinstellungen vornehmen oder Datenanalyseaufgaben ausführen können. Erweiterte Funktionen wie automatische Datenerfassung und Berichtsgenerierung können mit wenigen Klicks einfach aktiviert oder deaktiviert werden. Neben den messtechnischen und Wafer-Prüffunktionen bietet TENCOR P 1 auch eine integrierte Fertigungsprozesskontrolleinrichtung, die es Anwendern ermöglicht, die Qualität ihrer Produkte während ihrer Herstellung zu überwachen. Dieses System kann Benutzer auf mögliche Probleme aufmerksam machen, während sie auftreten, so dass sie schnell und effizient Korrekturmaßnahmen ergreifen können. P1 bietet eine verbesserte Flexibilität und Präzision im Vergleich zu herkömmlichen Prüf- und Messtechnik-Systemen und ist damit die ideale Lösung für Halbleiterfabriken und andere technologiezentrierte Industrien. Durch die Vereinfachung des Test- und Überwachungsprozesses der Waferproduktion trägt diese Einheit dazu bei, die Produktionskosten erheblich zu senken und gleichzeitig Ressourcen zu schonen und die Erträge zu verbessern.
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