Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX 6200 Surfscan #9212150 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es ist für die Waferoberflächenanalyse und Messtechnik von Halbleiterscheiben konzipiert. Es integriert mehrere Technologien in einem einzigen Werkzeug, darunter: optische Mikroskopie (OM), spektrale Reflexion (SR), Oberflächenprofilometer (SP), Atomkraftmikroskopie (AFM), Streuung (SC) und optische CD (OCD). KLA 6200 Surfscan ist in der Lage, schnell eine breite Palette von Oberflächenmerkmalen zu messen, einschließlich Schritthöhen, Ebenheit, Mikrorauhigkeit, lokale Dicke, Topographie, Zusammensetzung und Brechungsindex. Diese Parameter sind wesentliche Daten, die zur Bestimmung der Qualität einer Waferoberfläche beitragen. Mit seinem hochauflösenden optischen Mikroskop und Spektrometer ist TENCOR 6200 Surfscan in der Lage, selbst kleinste Oberflächennuancen zu erkennen. Neben der Möglichkeit, eine breite Palette von Daten zu erfassen, ist 6200 Surfscan mit einem einzigartigen Auto-Control-System ausgestattet. Diese Einheit erleichtert die automatische Einstellung von Messparametern für verschiedene Oberflächentypen. Dadurch kann der Anwender einfach und schnell alle notwendigen Tests am Wafer durchführen. Auch die Datenerfassungsmaschine von PROMETRIX 6200 Surfscan ist effizient und zuverlässig. Das Tool ermöglicht es dem Benutzer, mehrere Messwerte gleichzeitig zu erfassen. Die Messwerte werden dann zur zukünftigen Referenz im internen Speicher des Assets gespeichert. Dieser Speicher unterstützt auch verschiedene Arten von anwendungsspezifischen Analysen. KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan ist auch mit einer intuitiven Benutzeroberfläche mit einem großen LCD-Bildschirm ausgestattet. Dies bietet eine benutzerfreundliche Umgebung, die eine schnelle und klare Ausführung von Befehlen ermöglicht. Darüber hinaus machen die Touchscreen-Funktionen das Modell noch benutzerfreundlicher. Insgesamt ist KLA 6200 Surfscan eine einfach zu bedienende, zuverlässige und robuste Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiter-Waferanalyse. Es kann schnell eine breite Palette von Daten und speichern sie genau für die Zukunft Referenz. Die automatische Steuerung sorgt dafür, dass die Messgrößen nach Bedarf angepasst werden. Schließlich sorgt die benutzerfreundliche Oberfläche für eine einfache Bedienung und Steuerung des Geräts.