Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-55/TC #46197 zu verkaufen

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-55/TC ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die Halbleiter- und Optoelektronik entwickelt wurde. Diese fortschrittliche Ausrüstung wird für Produktions- und Entwicklungsanwendungen verwendet, einschließlich Chipprüfung, Verpackung, Prozessüberwachung und Qualitätskontrolle. Die Software des KLA RS-55TC Systems ermöglicht die Steuerung von Produktionsprozessparametern, einschließlich Position, Fokus, Scan-Modus und Beleuchtung. TENCOR RS55/TC ist mit einer 1 bis 2 Zoll Wafer Scanning Stage, Capping Modul, Wafer Scanning Station und integrierter Kameratechnik ausgestattet. Diese erweiterte Testeinheit verfügt über die Fähigkeit, 4D (Dimension, Formgröße, Dicke), 2D (X/Y), Pixel-Array-Analyse und kritische Bemaßungsanalyse mit überlegener Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. Darüber hinaus verfügt diese Maschine über ein patentiertes hochauflösendes digitales Bildgebungswerkzeug, das eine Auflösung von bis zu 0,1 µm in der Ebene mit einer Reichweitenmessgenauigkeit von bis zu 5 µm für extrem präzise Messungen kombiniert. TENCOR RS-55/TC ist auch mit einem fortschrittlichen Automatisierungs-Asset ausgestattet. Die automatische Wafer-Fragmentierung ermöglicht eine automatisierte Wafer-Segmentierung und kann die Leistung von leistungsstarken Werkzeugen genau identifizieren und unterscheiden. Dieses Modell hat die Fähigkeit, optische Eigenschaften wie Form und Farbe, metallische geometrische Merkmale wie Grabenformen, Analyse kritischer Dimensionen und Messung von Bildkontrast und Fokus zu analysieren. Schließlich verfügt RS-55TC auch über eine intuitive Benutzeroberfläche. Diese Benutzeroberfläche ermöglicht dem Bediener einfachen Zugriff auf wichtige Gerätefunktionen und ermöglicht eine mühelose Anpassung der Konfigurationsoptionen. Die offene Architektur des Systems macht es kompatibel mit anderen Fertigungs-Automatisierungssoftware, so dass es ein hohes Maß an Flexibilität. Insgesamt ist PROMETRIX RS55/TC eine unglaublich vielseitige und präzise Wafertest- und Messtechnik-Einheit. Es hat die Fähigkeit, 4D-, 2D-, Pixel-Array-Analyse und kritische Dimensionsanalyse mit einer extrem hohen Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. Darüber hinaus erhöht die Automatisierungsmaschine und die intuitive Benutzeroberfläche die Flexibilität dieser Ausrüstung und ist damit ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiter- und Optoelektronikindustrie.