Gebraucht MDC CV #46944 zu verkaufen

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ID: 46944
Plotter with a KEITHLEY 236 source measure unit HEWLETT PACKARD / AGILENT 4284A precision LCR meter (Qty 2) Chucks, 6" Mercury probe.
MDC CV ist eine automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für genaue und wiederholbare Messungen von mikroelektronischen Komponenten entwickelt wurde. Es nutzt eine Kombination aus optischen, elektronenmikroskopischen und interferometrischen Messfähigkeiten, um Anwendern beispiellose Genauigkeit und Wiederholbarkeit zur Bewertung der Produkteigenschaften während des gesamten Herstellungs- und Montageprozesses zu bieten. Das System verwendet eine hochauflösende Bildgebungseinheit, die eine Vielzahl von optischen und elektronenmikroskopischen Verfahren verwendet, um Waferoberflächen abzubilden, mit Lasern, einem FTIR-Spektrometer, einem Raman-Spektrometer und einer integrierten Beugungsgitteranordnung, die maximale Flexibilität für die Probencharaktisierung und analyse bietet. Mehrere eingebettete Digitalkameras bieten eine ungehinderte Sicht auf die Proben, so dass genaue Messungen von Merkmalen innerhalb der Probe möglich sind. Die Maschine verwendet außerdem einen hochauflösenden Mustererkennungsalgorithmus, der den Datenerfassungs- und Analyseprozess automatisiert und eine schnellere und effizientere Probencharakterisierung und -analyse ermöglicht als je zuvor. Die bordeigene Messtechnik-Software ist in der Lage, Wafer-Topographie- und Kristallographie-Attribute schnell und präzise zu messen; B. Oberflächenrauhigkeit und Oberflächenmuster sowie Echtzeitanalysen einzelner Partikel und Korngrößen. CV Tool beinhaltet auch eine vollautomatische Waferaufbereitungsstation, die die Probenvorbereitung vereinfacht und beschleunigt, sowie ein spezielles Auswurf- und Handhabungsgut für Proben, die zu klein oder empfindlich für manuelle Manipulation sind. Die automatisierte Station bietet eine schnellere und effizientere Probenvorbereitung, wodurch die manuelle Handhabung der Wafer entfällt. Schließlich umfasst das Modell eine integrierte Datenverwaltungsausrüstung, die eine sichere elektronische Speicherung und Abfrage aller Systemdaten ermöglicht. Durch diese Funktion ist der Benutzer in der Lage, schnell und einfach Ergebnisse zu vergleichen, sowie wichtige Informationen zu speichern und mit anderen Mitgliedern ihrer Arbeitsgruppe zu teilen. Zusammenfassend ist MDC CV eine automatisierte Wafer-Test- und Messtechnik-Einheit, die Anwendern beispiellose Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Wafer-Charakterisierung und -Analyse bietet. Mit der Kombination aus hochauflösender Bildgebung, Mustererkennung und automatisierter Probenvorbereitung bietet die CV-Maschine dem Anwender ein sehr vielseitiges Werkzeug zur Messung und Analyse mikroelektronischer Komponenten.
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