Gebraucht SSM 470i #160237 zu verkaufen

SSM 470i Wafer Test und Messtechnik Ausrüstung von Cascade Microtech ist eine nächste Generation Design und Verifizierung Workstation, die branchenführende Halbleiter Test und Ausfallanalyse Fähigkeiten bietet. Dieses System ist für die anspruchsvollsten Anforderungen an Test, Messung und Analyse optimiert und bietet kostengünstige, leistungsstarke Lösungen. Entworfen, um konsistente Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten, bietet es bis zu 4.200 Kelvin Testtemperaturfähigkeit mit einer präzisen 200 ms Verweilzeit. 470i ist für eine Vielzahl von Technologien konzipiert, einschließlich, aber nicht beschränkt auf, SOI, SiGe, BV/FET und Verbundhalbleiter sowie GaAs und andere neue Technologien. Es unterstützt Design-Integration von Chip und Paket zu Einheit Ebene, so dass effiziente Tests und Ertragsoptimierung durch präzise Charakterisierungsfunktionen. SSM 470i ist sehr anpassbar, mit einer Reihe von Tools, um die Kundenanforderungen zu erfüllen. Die flexible Maschinenarchitektur bietet die neuesten fortschrittlichen Fehlerbehebungsmethoden und die Benutzersteuerung für die Entwicklung, Wartung und Ausführung von Testprogrammen. 470i bietet eine breite Palette von Wafer-Sondierungs- und Messtechnik-Fähigkeiten. Das Tool enthält auch einen integrierten Satz von Hardware- und Softwarepaketen, wie den QA-370i Test Controller, den QA-370ii Test Controller und den MT-370 Test Programmer. Die einzigartigen Datenerfassungs- und Analysefunktionen dieser Ressource bieten eine verbesserte Datengenauigkeit und Wiederholbarkeit in einer Vielzahl von Anwendungen. Darüber hinaus ist SSM 470i mit einer leistungsstarken grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine einfache Bedienung und Benutzerfreundlichkeit ermöglicht. Es ist in eine breite Palette von Hochleistungs-Software-Tools integriert und bietet automatische Testprogramme, Datenerfassung, Datenanalyse und statistische Analysefunktionen. Die Software-Tools von 470i machen es einfach, jede Art von Testprogramm zu erstellen. Das Modell verfügt über Hochdurchsatz-Scannen aller Sondenkarten und -kammern, Verringerung von Bedienungsfehlern sowie automatische Ausrichtung für problemlose Testprogrammierung. Das Gerät bietet zudem eine hervorragende Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit, die zuverlässige Testergebnisse auf konsistenter Basis ermöglichen. Durch sein effizientes Design, seine erweiterten Funktionen und Konfigurationsoptionen ist das Wafer-Test- und Messtechnik-System SSM 470i die perfekte Lösung für alle Anforderungen an Halbleitertests und Fehleranalysen.