Gebraucht VEECO / SLOAN V200-SL #195871 zu verkaufen

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VEECO / SLOAN V200-SL
Verkauft
ID: 195871
Surface profilometers.
VEECO/SLOAN V200-SL ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine genaue und zuverlässige Prozesskontrollleistung liefert. Es basiert auf einer Standardplattform, die leistungsstarke Optik und Software integriert, um eine umfassende Analyse und Wiederholbarkeit zu liefern. Das System besteht aus einer Messtechnik-Plattform, Messtechnik-Subsystemen und einer Benutzeroberfläche. Die Messtechnik-Plattform umfasst fünf Hauptkomponenten: Die Vision-Einheit, die Bühnenhardware, die Optik, die Positionierung und die Robotik. Die Vision-Maschine verwendet sowohl vorausschauende als auch Side-Look-Mikroskope, die jeweils eine vollständige Wafer-Untersuchung ermöglichen, sowie automatisierte Spotinspektionsmöglichkeiten. Die Plattform ermöglicht hochauflösende Bildgebung in den UV-, sichtbaren und nahen Infrarotspektren. Darüber hinaus ist das Werkzeug in der Lage, die Schlupfprüfung mit einem variablen Formbereichsscan abzudecken, der sowohl feine als auch grobe Merkmale adressiert. Die messtechnischen Subsysteme, einschließlich Bildanalyse und -verarbeitung, sind so konzipiert, dass sie dem Anwender die Möglichkeit bieten, Prozesskontrollparameter zu quantifizieren und zu optimieren und qualitative Beurteilungen der Waferqualität bereitzustellen. Die automatisierten Messfunktionen innerhalb des messtechnischen Teilsystems dienen der Messung und Überwachung unterschiedlichster Wafereigenschaften. Darüber hinaus stehen spezifische Softwareoptionen zur Messung von anwendungsbezogenen Eigenschaften eines Kunden zur Verfügung. Die Benutzeroberfläche ist intuitiv und benutzerfreundlich gestaltet. Durch seine verschiedenen Softwarefunktionen können Benutzer auf Daten zugreifen, das Asset steuern und Berichte über gesammelte Analysen und Messungen erstellen. VEECO V200-SL bietet fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Funktionen in einer sehr vielseitigen und zuverlässigen Plattform, die für langfristige, High-End-Wafer-Tests und messtechnische Leistung konzipiert ist. Die erweiterten Funktionen, die intuitive Benutzeroberfläche und die umfassende Integration von Systemen machen es zur perfekten Wahl für jede Prozesssteuerungs-, Forschungs- oder Entwicklungsanwendung.
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