Gebraucht AEHR MTX #9363037 zu verkaufen

AEHR MTX ist eine vollautomatisierte und elektrisch überwachte Burn-In-Ausrüstung, die es ermöglicht, integrierte Schaltungen (ICs) zu testen. Das System kann verwendet werden, um Zuverlässigkeitsprobleme in allen Arten von ICs wie Transistor analoge Geräte, Flash-Speicher, Mikrocontroller und Unit-on-Chip (SoC) Geräte zu erkennen. Die Maschine trägt dazu bei, das Ausfallpotenzial aufgrund von Problemen mit der Zuverlässigkeit der Frühlebensdauer zu reduzieren und kann zur Bewertung der Zuverlässigkeit und Lebensdauer von Zukaufteilen verwendet werden. Das MTX-Tool bietet eine exakt kontrollierte Umgebung, um ICs zu testen. Es enthält eine thermische Testkammer, die eine kontrollierte Temperaturumgebung erzeugt, um den IC einem Temperaturbereich für eine vorbestimmte Zeitspanne auszusetzen. Dadurch wird sichergestellt, dass der IC unter realistische Betriebsbedingungen gestellt wird, um den IC zu belasten und eventuelle Mängel oder Alterungsprobleme vor dem Versand des Produkts zu erkennen. Neben der Temperaturregelung umfasst AEHR MTX asset auch ein Data Acquisition Model. Dieses Gerät misst Schlüsselparameter wie Strom, Spannung, Temperatur und Signalfrequenz und protokolliert diese Informationen in einer spezialisierten Testdatei. Diese Daten können dann zur Auswertung der ICs und zur Erkennung eventueller Probleme verwendet werden. MTX enthält auch einen Power Test Setup, der es erlaubt, mehrere ICs oder Module gleichzeitig zu testen. Dieser Aufbau beinhaltet auch eine mehrstufige Versorgungsspannungsregelung und eine Leistungsanforderungseinstellung für eine Vielzahl von Geräten. Insgesamt ist AEHR MTX eine zuverlässige und leistungsstarke Lösung, um ICs während des Herstellungsprozesses zu testen. Es ermöglicht das Testen von ICs unter realen Bedingungen und wird verwendet, um mögliche Zuverlässigkeitsprobleme zu identifizieren, die zum Scheitern führen könnten. Darüber hinaus umfasst MTX eine Reihe von Systemen, die eine genaue und umfassende Datenerfassung ermöglichen, um die Leistung der ICs zu bewerten und festzustellen, ob weitere Maßnahmen ergriffen werden müssen.