Gebraucht JEC / JAPAN ENGINEERING COMPANY PROFIT-1500H #9282491 zu verkaufen
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JEC/JAPAN ENGINEERING company PROFIT-1500H ist eine Burn-In-Equipment-Lösung, die eine Vielzahl von integrierten Schaltkreisen (IC) unterstützt. Es eignet sich für jede Art von IC-Gerätetests und bietet umfassende Anpassungsoptionen, um spezifische Burn-in-Testanforderungen zu erfüllen. Das System umfasst ein Wärmemanagementmodul, das eine genaue Temperaturregelung und ein gleichmäßiges thermisches Zyklus sowie einstellbare Testzeiten und -empfindlichkeiten gewährleistet. Es verfügt auch über ein dynamisches Datenerfassungsmodul zum Aufzeichnen von Daten und zum Verwalten von thermischen Profilen. Das Gerät ist mit zwei Reglerschaltungen zur Einzelpunktsteuerung aller Burn-In-Prüfvorgänge ausgestattet. JEC PROFIT-1500H bietet Anwendern ein hohes Maß an Flexibilität und Skalierbarkeit, sodass sie ihre Burn-In-Testumgebung an ihre Anwendungsanforderungen anpassen können. Es wird von einem 88-Bit-Digital-Analog-Konverter (DAC) und einer PCI-Bus-basierten Datenerfassungs- und -Steuerungsplatine mit hoher Genauigkeit und Zuverlässigkeit betrieben. JAPAN ENGINEERING-Unternehmen PROFIT-1500H auch eine Echtzeit-Embedded-Bedienmaschine mit der Fähigkeit, Linux-Programme laufen, bietet Benutzern maximale Kontrolle und Flexibilität bei der Planung von Tests und die Analyse von Ergebnissen. Es unterstützt eine Vielzahl von analogen und digitalen Ein- und Ausgang FIFO-Anschlüsse für maximale Stabilität und Flexibilität, so dass eine einfache Erweiterung. Das vielseitige Design des Werkzeugs ermöglicht es Benutzern, Burn-In-Tests für jede Art von IC-Gerät durchzuführen, indem spezialisierte Testmuster ausgewählt, Temperaturbereiche festgelegt und mehrere thermische Zyklussequenzen ausgeführt werden. PROFIT-1500H enthält auch eine umfassende Bibliothek mit Informationen über häufig verwendete Geräte und die entsprechenden Testszenarien. Als umfassende Burn-in-Asset-Lösung ist JEC/JAPAN ENGINEERING PROFIT-1500H darauf ausgelegt, die spezialisierten Anforderungen der IC-Gerätetests in technologisch fortschrittlichen Umgebungen zu erfüllen. Es wurde entwickelt, um Flexibilität, Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu bieten, um erfolgreiche Tests und zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten.
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