Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 33250A #9396254 zu verkaufen

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 33250A ist ein elektronisches Testgerät, das in der Lage ist, sowohl analoge als auch digitale Signale zu erzeugen und zu messen und mehrere Signale genau zu erzeugen. Es hat einen Frequenzbereich von bis zu 50MHz und bietet sowohl externe als auch interne Auslöseoptionen. Es verfügt über zwei unabhängige Kanäle mit jeweils separaten Amplituden-, Offset- und DC-Vorspannungssteuerungen, die eine Optimierung der Signalerzeugung ermöglichen. HP 33250A verfügt über zahlreiche integrierte Funktionen zur Erzeugung und Analyse von Wellenformen, einschließlich Sinus, Quadrat, Dreieck, Impuls, Rampe und Gleichspannungswellenformen. Es bietet auch einen beliebigen Wellenform-Generator mit bis zu zwei Millionen Punkten der 16-Bit-Auflösung Wellenform-Erzeugung und Editierbarkeit. Für Anwendungen mit höherer Genauigkeit kann der Wellenformgenerator mit einer externen Triggerquelle synchronisiert werden. AGILENT 33250A bietet auch umfassende Signalmessfunktionen für analoge und digitale Signale. Es bietet einen hochauflösenden Analog-Digital-Wandler und einen analogen Komparator, der analoge Signale mit hoher Auflösung detektieren kann. Es bietet auch grundlegende Statistikfunktionen wie Maximum, Minimum, Mean, Standard Deviation und RMS. 33250A verfügt zudem über ein leistungsstarkes digitales Designmodul, mit dem Anwender digitale Signale mit höherer Auflösung erzeugen und analysieren können. Es bietet Waveform Anatomy-Fähigkeit, so dass Benutzer hochrangige digitale Parameter wie PDDQ/PDDQDQ, Jitter und das Augendiagramm berechnen können. Schließlich bietet HEWLETT-PACKARD 33250A eine bequeme und benutzerfreundliche Schnittstelle für den Zugriff auf alle seine Funktionen, mit einem LCD-Display, einem Tastenfeld und der Möglichkeit, mit einem Computer über USB, Ethernet oder GPIB-Ports zu interagieren. Mit seinen flexiblen Signalerstellungs- und Analysefunktionen ist KEYSIGHT 33250A eine ideale Wahl für Anwendungen wie EMI-Fehlerbehebung, Circuit Debugging, Testen von Embedded-Systemen und Oszilloskop-Ersatz.