Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 70951B #293619045 zu verkaufen

AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 70951B
ID: 293619045
Optical spectrum analyzer With display: 7000A.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 70951B ist eine automatisierte, programmierbare DC-Test- und Analyselösung für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Entwicklung, Validierung, Systemoptimierung und Produktionstest von Power Management ICs, Transistoren, HBTs und Super-Junction MOSs. HP 70951B bietet eine breite Palette von Messfunktionen, einschließlich Gleichspannung und Strom, Verlustleistung, Ausgangsimpedanz, Ladung und Kapazität, Verzögerung, Pulsbreite, Anstiegs-/Abfallzeit und Schaltungstests mit niedriger Leistung. Es wurde entwickelt, um den Anforderungen der branchenführenden Herstellbarkeit, Kompatibilität und Performance-Erträge gerecht zu werden. AGILENT 70951B verfügt über eine Vielzahl von Steuerungsoptionen, einschließlich automatischer Steuerungskonfiguration, flexibler Sequenzierung, mehrerer Rezepte, Fehlereinschränkung, beschleunigte Belastungstests, digitale E/A, Nachgeben, vorbeugende Wartung und Fernzugriff über LAN oder GPIB. Diese Vielseitigkeit ermöglicht es dem Tester, während des gesamten Testprozesses eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit aufrechtzuerhalten. Um die Eigenschaften des Power Management IC genau zu messen, ist KEYSIGHT 70951B mit einer breiten Palette von Messgeräten ausgestattet. Dazu gehören ein hochempfindlicher Gleichstromzähler, hochempfindlicher Wechselstromzähler mit gleichgekoppelter Temperaturkompensation, Präzisionsverstärker und Mikrowellenleistungszähler. Das vielseitige HP Wafer Probe System bietet einen kompletten Satz mechanischer und elektrischer Hardwarelösungen mit der Fähigkeit, zusätzliche Vorrichtungen und Zubehör zu integrieren, um die Testfunktionen weiter zu erweitern. 70951B verfügt auch über optionale integrierte Temperaturmesseinheit (TMU) und integrierte Digital-Analog (DAC) Wandlertechnologie. Mit der optionalen TMU können Anwender die Temperatur des Device-under-Test (DUT) messen, um die Auswirkungen thermischer Effekte auf die Geräteleistung zu verstehen. Der integrierte DAC-Wandler wurde entwickelt, um die Leistung des DUT über programmierbare analoge Spannungsimpulse zu optimieren. Das integrierte Switching Module ermöglicht eine zuverlässige Prüfung von leistungsstarken Geräten, wodurch das Debuggen vereinfacht und die Ausbeute an maximaler Testleistung optimiert wird. Mithilfe der AGILENT DC-Software zur elektrischen Charakterisierung können Benutzer Messdaten übertragen, speichern und analysieren, Rauschen und Variabilität reduzieren, Debug und Optimierungen beschleunigen und Testzeiten und Systemverfügbarkeit verbessern. HEWLETT-PACKARD 70951B bietet auch eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche und Software-Design-Tools, die Test-Setup, Betrieb und Datenhandling erleichtert. Die Kombination all dieser fortschrittlichen Funktionen bietet eine wirklich dynamische Test- und Messlösung, die perfekt für Produktionstests, Validierung und Debugging von Power Management ICs geeignet ist.
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