Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 81533B #9280648 zu verkaufen

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 81533B ist ein optischer Wellenlängenmesser, der für präzise und genaue Messungen in der Testumgebung ausgelegt ist. Dieses kompakte, robuste Design zeichnet sich durch eine handgeführte ergonomische Bedienbarkeit für den einfachen Einsatz im Labor oder Feld aus. HP- 81533B können optische Leistung bis zu 10 dBm in einem weiten dynamischen Bereich von 1580 nm bis 1625 nm mit einer Wellenlängengengenauigkeit bis zu 0,01 nm messen. Dieser Zähler unterstützt eine variable Schrittweite von 0,01 nm bis 0,1 nm und bis zu 1000 Wellenpunkten und eignet sich somit ideal für umfassende Testumgebungen. Es unterstützt auch Live-Überwachung, so dass Benutzer schnell und präzise eine breite Palette von Laserquellen mit höchster Präzision und Wiederholbarkeit messen können. AGILENT 81533B kommt auch mit einer Reihe von digitalen Kommunikationsschnittstellen, einschließlich USB, GPIB und VXI11, so dass Benutzer die Metrologie-Instrumente einfach für die Schnittstelle mit ihren eigenen Systemen konfigurieren können. Darüber hinaus kann KEYSIGHT 81533B mit Software für HP-Glasfaser-Testprodukte wie AGILENT 81534A Optical Wavelength Meter und KEYSIGHT 81535A Optical Power Meter Schnittstelle. Darüber hinaus ist 81533B robust und leicht ausgelegt und eignet sich somit für den Einsatz in einer Vielzahl von Einstellungen, sei es im Labor oder im Außendienst. Mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche und der grafischen Echtzeit-Anzeige können Laserquellen auch in anspruchsvollen Umgebungen zuverlässig einfach und präzise getestet werden. Es verfügt auch über ein Alarmsystem, das sofort aufgetretene Messfehler und Warnungen meldet. Insgesamt ist HEWLETT-PACKARD 81533B das ideale Werkzeug für präzise, genaue und zuverlässige Messungen in Test- und Betriebsumgebungen. Dank seiner benutzerfreundlichen Funktionen, digitalen Kommunikationsschnittstellen und seiner robusten Konstruktion kann es für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich der Charakterisierung optischer Stromquellen, der Emissionsprüfung und der Kalibrierung von Testressourcen.