Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E4428C #188245 zu verkaufen

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E4428C ist ein vielseitiges elektronisches Prüf- und Messgerät für den Einsatz in Labor- und Produktionsumgebungen. Es ist ein Mikrowellenvektorsignalanalysator (VSA), der eine Vielzahl von Funktionen und Vorteilen bietet, um präzise und zuverlässige Messungen für praktisch jede Anwendung zu liefern. HP E4428C ist ein weich dekomprimierter IF-Analysator und ermöglicht es Benutzern, tägliche, monatliche oder jährliche Anwendungstrends oder Systemoperationen zu messen, um unerwartetes Verhalten zu erkennen. AGILENT E4428C hat einen Frequenzbereich von 9 kHz bis 26,5 GHz und eine breite Palette von Dynamikbereich und Messgenauigkeit zur besseren Charakterisierung von Signalen und Rauschen. Es verfügt über eine integrierte Signalverarbeitungseinrichtung, die Signale filtern, kombinieren oder trennen kann, um Eingangs- und Ausgangscharakteristiken für Impuls- oder Schwenkmessungen zu optimieren. Der Analysator verfügt auch über eine schnelle Datenerfassungsfähigkeit mit einem integrierten Signalverarbeitungspaket, um spezifische Messungen wie Modulation, Rauschcharakteristik und Störungen zu unterstützen. Das integrierte Datenanalysepaket ermöglicht es Benutzern, schnell komplexe Ergebnisse zu generieren. E4428C umfasst eine umfassende Software-Suite, die einfachen Zugriff auf alle Funktionen und Funktionen des Analysators bietet. Die Software kann den Analysator steuern, Daten erfassen, eine Spektrumanalysatorspur anzeigen, Ergebnisse generieren und Ergebnisse für eine weitere Analyse in eine Vielzahl von Formaten exportieren. KEYSIGHT E4428C ist ein zuverlässiges, genaues und vielseitiges Test- und Messgerät, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, darunter analoge, digitale, gemischte Signalanalysen, drahtlose und andere komplexe Signalanalysen. Sein umfassendes Feature-Set und seine Leistung machen es zu einem idealen Instrument für Ingenieure und Wissenschaftler, die die Leistung oder Konformität komplexer Mikrowellensysteme messen müssen.